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蔡司針對先進半導體封裝推出3D X-ray成像解決方案

能檢測封裝內部的次微米架構變化，針對多個可靠性測試讀取點進行連續成像. Xradia 800 Ultra將3D XRM帶入奈米領域，不僅可在奈米級空間解析度下呈現埋藏在 ...

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