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IC芯片缺陷检测使用X-RAY无损检测设备效果最佳 - 腾讯新闻

X -RAY检测设备主要依靠内部X光管发射X射线照射IC芯片成像，X射线穿透物体后，数字平板器接收图像信号，进而传输至电脑，软件处理后，在屏幕上实时成像。

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