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SEM 使用
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掃描式電子顯微鏡/ Scanning Electron Microscope (SEM)
本儀器利用加負壓於金屬尖端上,以強電場將電子吸出尖端而形成很微小的電子束,在極高的真空中操作可得到高品質分辨率的影像,普遍的使用在非導電性樣品的觀察上,如 ...
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