為什麼這篇sem試片製作鄉民發文收入到精華區：因為在sem試片製作這個討論話題中，有許多相關的文章在討論，這篇最有參考價值！作者blackangel (白雲絲)看板Chemistry標題[學科] SEM相關問題時間Sun J...
1.掃描電子顯微鏡/X 射線能譜法（SEM/EDS）在鑑識上常用以觀測微細碎粒的形狀
及分析所含的金屬元素。試說明
(a)微細碎粒在螢幕上構成影像的原理；
(b)X 射線產生的機制及K 系列（K series）譜線及L 系列（L series）譜線的區別。
並說明所得 X 射線能譜的特性與用途。
2.請比較掃瞄式電子顯微鏡(SEM)及穿透式電子顯微鏡(TEM)的相異處。
這些問題 我有先查過原文書了
但覺得說法有點抽象
SEM是產生二次電子 所成像的。TEM是靠高壓電子源。
但我比較不出SEM和TEM的優劣處
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※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc)
◆ From: 123.195.21.186
推 joey760928:TEM試片製作比較困難(要薄) 06/29 02:27
→ joey760928:另外SEM只能看到表面結構 TEM是根據穿透內部狀況 06/29 02:28
→ joey760928:因此可分析內部組成與結構 能夠作相分析 06/29 02:29
→ joey760928:K系列跟L系列能譜差別在能階 一個是掉到K層一個掉到L層 06/29 02:32
→ joey760928:而K peak和L peak在強度上有很明顯差異(K>>L) 06/29 02:33
→ joey760928:因此分析時能用K就決不用L 除非重原子K peak能量太高 06/29 02:35
→ joey760928:超出電子顯微鏡能量範圍 06/29 02:35
→ blackangel:thank you 06/29 08:39