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繞射應用
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8. 光學應變規量測系統之開發 - TAIROA
量,操作上較為複雜,而目前利用之單狹縫繞射已. 普遍應用於如光譜儀、微細外徑量測等方面,使用. 效果廣獲外界肯定,尤其是自半導體雷射普及後,.
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