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繞射應用
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https://lib.cysh.cy.edu.tw/science/content/1989/00090237/0006.htm
觀測原子排列的奧祕 MEM-LEED系統
一般應用於研究表面結構的觀測技術,不外乎「顯微放大成像技術」與「繞射技術」。前者是設計放大倍數極高的顯微儀,直接觀察表面之原子排列;而後者是利用帶電粒子或中 ...
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「繞射應用」
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