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建構彩色濾光膜及微透鏡缺陷樣型分析之資料挖礦架構

微影製程 的缺陷辨識. Hsu 等（2010）. TFT-LCD. 陣列製程造成缺陷影響良率提昇的. 根本原因. Tseng 等（2011）. LCD 彩色濾光膜. 彩色濾光膜製程缺陷樣型的缺陷萃.

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