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四點探針4 Point Probe - 國立中山大學光電工程學系

名稱： 四點探針4 Point Probe 用途 ：量測電阻值及導電率 廠牌：誌成貿易股份有限公司 重要規格： 1. ... 基板上成長一單層薄膜為最佳試片結構；需準備純基板以建構基板.

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