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[爆卦]四點探針電阻率是什麼？優點缺點精華區懶人包
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#1第一章四點探針電阻量測
在電子工業中所使用的電子材. 料，從電阻係數、薄膜厚度、到電路寬度都是製程參數的函數如鍍膜真空度、. 溫度、速率等。因此，透過電阻量測往往可以檢測出這些參數在材料與 ...
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#2薄膜電阻- 維基百科，自由的百科全書
四點探針 ，也被稱為四探針法，是測量薄膜電阻最常用的一種方法。但是隨著被檢測對象的小型化和表面敏感化，例如四探針法這種接觸檢測日益被非接觸式渦流檢測所取代。
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#3四點探針系統/ 四點探針電阻係數量測/ 四點探針薄膜量測服務
四點探針 系統 / 四點探針電阻係數量測 / 四點探針薄膜量測服務. (Four Point Probing / Resistivity Probing/ 4 Point Measurement Service). 凱思隆的四點探針系統， ...
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#5四點探針電阻量測儀 - 永續能源發展中心
儀器介紹／用途：四點探針法是測量薄膜電阻最常用的一種方法，利用外側兩探針間加固定電流，並同時量測另外兩個內探針間之相對電壓計算其電性。使用者可以經由輸入試片 ...
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#6力回饋四點探針—薄膜電阻量測 - YouTube
Four-Point Probe Sheet Resistance Measurement｜力回饋 四點探針 —薄膜 電阻 量測]- 運用 四點探針 量測原理，量測各式片狀或塊狀之導體、半導體材料以及 ...
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#8四點探針Four-Point Probe
片電阻值會受到薄. 膜厚度、晶粒尺寸、合金比例與雜質濃度等因素影響，因此在製程過程中，常常會仔細的監控片. 電阻值，以建立片電阻與晶片良率之間的關係 ...
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#9分子科學研究所碩士論文 - 國立交通大學機構典藏
因為在典型的四點式量測中Rsp>>Rs，因此Rsp 為. 電阻率的度量。對於一機械上的探針接觸而言，我們無法將Rc 以及. Rsp 兩者能獨立地量測以及精確地計算 ...
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#10手動式四點探針面電阻值/電阻率測量儀 - Quatek
RT-70V是由日本Napson公司推出的桌上型手動四探針電阻率量測設備。它運用四探針電阻率量針對半導體及其他導電材料進行測量，同時根據各種不同的需要，配備了多款不同的測試 ...
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#11四點探針量測系統- 半導體相關檢測 - 巨克富科技
快速而直覺化的—四點探針薄膜電阻量測系統(Four-Point Probe Sheet Resistance Measurement) ... 已知薄膜厚度之情況下，同時推算出體電阻率(Bulk Resistivity)與電導 ...
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#12四点探针与电阻率测试设备
四点探针 与电阻率测试设备. QuadPro Resistivity Wafer Mapping System. Signatone 公司生产制造的QuadPro 制程发展电阻率量测. 系统包含了手动和自动的量测系统．
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#13四點探針薄膜電阻量測儀Four Point Probe Sheet ... - i郵購
四點探針 薄膜電阻量測儀(FPSR100)是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量半導體材料的電阻率，測量擴散層的薄層電阻（亦稱片電阻）。特製的四探針測試 ...
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#14四探針方阻儀塑料薄膜金屬鍍層電導率電阻率測試儀ITO膜硅片 ...
歡迎前來淘寶網實力旺鋪，選購四探針方阻儀塑料薄膜金屬鍍層電導率電阻率測試儀ITO膜硅片測試，該商品由聯合儀器商城店鋪提供，有問題可以直接諮詢商家.
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#15矽鉻靶材及濺鍍條件對薄膜電阻特性影響之研究 - 義守大學
而有先大幅下降的趨勢，然後再趨於帄緩，電阻率會有先微幅的上升，隨. 即帄緩的現象。 ... 用四點探針量測薄膜面電阻時，會因為四根探針壓入薄膜表面的深淺而有所.
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#16四點探針(4-point Probe) - 陽明交通大學奈米中心
重要規格:量測範圍從 1mili-ohm/square 到 5 x 10 8 ohm/square (sheet resistance); 或電阻率從1 mili-ohm.cm to 10 8 ohm.cm (bulk resistivity).
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#17NPS Resistivity Four Point Probe 四點探針探頭– RIKATEK-M
NPS Resistivity Four Point Probe 四點探針探頭. 特點: » 日本製/ 高性能/ 高品質/ 使用壽命長» 可直接替代使用Jandel 探頭的各品牌四點探針 » 提供換針服務, ...
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#18向特科技-四點探針推薦、薄膜電阻量測推薦 - Yahoo奇摩
開發部門以客製化軟體結合RFID與各式傳感器硬體，達成客戶的最終需求；代理部門以檢測儀器為主，有靜電量測，四點探針，非接觸阻值量測，等多項產品。
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#19CDE ResMap 四点探针(ResMap 178)4探针测试系统（电阻率
CDE ResMap 四点探针(ResMap 178)4探针测试系统（电阻率，面电阻）
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#20微纳米金属烧结体电阻率测试方法四探针法
3.8. 凯尔文电桥kelvin bridge. 为双臂电桥，测量电阻时有四个触电，称为四触点法。一般用于测量较低阻值的电阻。 [来源：GB/T 351—2019，3.8]. 3.9.
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#21銳隆科研市集桌上型四點探針直流低電阻測試儀
桌上型四點探針直流低電阻測試儀適合實驗室用於ITO導電玻璃、FTO導電玻璃、AZO導電玻璃、柔性ITO導電膜、片狀金屬等膜層均勻的剛性導體膜層和半導體膜層的方塊電阻、 ...
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#23半導體專題實驗
利用四點探針,將電壓與電流之量測放於不同探針組(如圖二),可避免探針與半導體間. 的電阻誤差,可較準確量出半導體的電阻率. 2.當晶片厚度(w)遠小於晶片直徑(d)時,且四點 ...
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#24四點探針量測系統
可以經由輸入薄膜厚度、試片大小，即可量測待測物之. 1.電阻值Resistance. 2.片電阻率Sheet resistivity. 3.體電阻率Volume resistivity. 4.電導率Conductivity.
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#25四點探針台
使用四點探針台,機台的手臂可快速更換模組式探針頭,探針頭將針尖間距及壓力參數固定, ... 薄膜偏電阻Sheet Resistivity; 體積偏電阻Volume Resistivity; 導電率Doping ...
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#26Napson / 四點探針電阻率測阻儀( RT-70 ) - 露天拍賣
Napson / 四點探針電阻率測阻儀( RT-70 ). B0002. 這項商品已下架，請您停止此筆交易。有任何問題請直接與客服中心 聯絡。
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#27||| 財團法人自強工業學基金會|||
四點 針測(4-Point Probe). 廠牌：Magne-Tron. ○主要規格：. 1.可測試範圍：Resistivity 10E+6(Ω-㎝)～ 10E-6(Ω-㎝). 2.基材最大厚度：100 mil. ○服務項目：.
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#28電阻率探針 - 阿里巴巴商務搜索
韓國微米探針精密電極晶圓芯片測試電極線路觸點檢測硬針尖頭探針 · 深圳市特萊美科技有限公司 1年 ... 四點探針導電和防jing電材料體積電阻率測試儀. ¥35000.00 ...
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#29清大材料系∮高中生專區∮, profile picture
【材料系#檢測儀器】─四點探針法#002篇經過團體座談的系簡介， 想必同學們對於# ... 四點探針法是目前廣泛應用在測量矽晶圓上導電薄膜電阻率的方法，.
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#30Resistivity Measurement_百度文库
第一章四點探針電阻量測. Ref: 清華大學網站電阻量測是電子材料檢測中最基本也是最重要的一種。從量到的電阻，我們可以進而推知材料的電阻係數。
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#31繁體字-製品5. 4探針プローブ
它是用於測量電阻率的高精度探頭。 目前，直流四點探針法是測量導電材料電阻值最可靠的方法。 · 特別是在測量半導體材料時，會出現精度和耐久性問題。 擁有多年經驗和良好 ...
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#32四探针电阻率测试仪-宁波瑞柯微智能科技有限公司
简要描述：FT-335四探针电阻率测试仪功能概述按照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定 ...
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#33使用4点共线探测和6221直流和交流电流源测量电阻率并确定 ...
高接触电阻意味着该电流源的箝位电. 压应比预期高得多,而且此电压表的输入电阻必须更高。 1 校正因子可以在标准4点探针电阻率测试程序中查到(例如SEMI MF84-02——— ...
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#34四探针电阻率测量仪的使用
本视频，介绍了四 探针电阻率 测量仪的使用方法. ... 四 探针 法测量 电阻率 演示. 257 --. 9:08. App. 四 探针 法测量 电阻率 演示. 测量导体 电阻率 （1）（电流表内接外接、 ...
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#35四點探針量測 - 大永真空設備
四點探針 量測. 型號：, LRS4-TK1. 搭載電壓-電流量測儀：, Keithley 2400. 功能：, 測量試片之電阻率、薄膜電阻、體積電阻率和電導率。
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#36Pro-4四點探針電阻率測量系統 - 双程科技股份有限公司
四點探針測量系統已應用於各種材料研究應用，測量各種襯底上的薄膜。 SIGNATONE Pro4四點探針電阻率測量系統為薄片和體電阻率測量提供了簡單的答案，.
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#37國立中山大學光電工程學系碩士論文氧化銦材料檢測與其應用
關鍵字:氧化銦、太陽能電池、電阻式記憶體、電阻率、功函數 ... 的電阻率，則需將量測出來的片電阻在乘上薄膜的厚度，缺點是四點探針本身為.
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#38溫度對TixFeCoNiOy 薄膜電阻率之影響
掃描式電子顯微鏡觀察，並藉由程式內部的量測工具量測薄膜厚度。 3-5-3 電阻率分析. 初鍍薄膜的電阻量測是利用四點探針電阻探測儀量測薄膜電阻。
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#39實驗二金屬薄膜沉積與四點探針方法Metal deposition and 4 ...
What are they suitable for? What is SRP (spreading resistance probe)? How is the resistivity measured by SRP?
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#40量測儀的價格推薦- 2022年10月| 比價比個夠BigGo
RT-70V PROBE UNIT 四點探針電阻係數量測儀 · $123,456. 價格持平. Yahoo拍賣 泓昇自動化PLC (150). 台南市. 四點探針薄膜電阻量測儀Four Point Probe Sheet ...
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#41大學物理相關內容討論:電阻的物理意義 - 物理系
為什麼要用這個單位? 3. sheet resistance 片電阻值=電阻率/厚度 [ohm/單位面積]. 此片 ...
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#42導電性材料的體積電阻率測量
PC應用軟體可以從我司4探針探頭標配的CD-R 的來進行安裝。 □構成. Page 2. A_AP_XX0000J00. © 2022 HIOKI E.E. CORPORATION.
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#43美隆電子有限公司MAYLOON ELECTRONIC CO., LTD.,
的使用,其參數穏定會影響產品合格率的重要關健因素。 電阻量測最簡單的方法就是用一個三用電表的兩根探針點觸在被測電阻導. 體電極的兩端,然後從電表上就可以讀到其 ...
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#44修 平 科 技 大 學 電 子 工 程 系
圖(七)四點探針. 四點探針原理: 片電阻(Sheet Resistance)是傳導性材料之重要特性之一，尤其是導. 電薄膜。片電阻值會受到薄膜厚度、晶粒尺寸、合金比例與雜質濃度.
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#45極片電阻測試方法探究-單探針&兩探針&四探針
2、可控壓的單探針法、兩探針法、四探針法測試樣品電阻率對比分析 取鋁箔、銅箔、正極片、負極片分別用三種不同測試方法測試10組數據，從圖中可以看出， ...
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#46四探针技术测量薄层电阻的原理及应用- 讲座培训
对四探针技术测试薄层电阻的原理进行了综述，重点分析了常规直线四探针法、 ... 薄层电阻测量，做出了样品的电阻率等值线图，为提高晶锭的质量提供了 ...
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#47Sheet Resistance Measurement - 楷力恩科技有限公司
Filmetrics薄膜電阻量測儀利用四點探針(4PP) 和渦流(EC) 兩種技術，來量測或測繪(mapping)金屬層厚度、薄層電阻、薄層電阻率、薄層電導和薄層電導率。
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#48直排四探针法测量硅片电阻率及不确定度评定Measuring ...
四探针电阻率测量仪广泛应用于半导体行业，是测量半导体材料电阻率的常用设备。本文针对不同样品测量时应注意的测量条件、适用的计算公式做了简要的说明，并对晶圆薄片 ...
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#50四探针法- 快懂百科
四探针法测量电阻率有个非常大的优点，它不需要校准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法校准。 ... 矫正的办法就是使用四点接触法，即四探针法。
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#51进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪 - 仪器网
测量方式： 电脑程序自动测量，或不连电脑单测量主机也可实现测量和数据显示，此时非常适合测试不规整样片单点测量，适合实际研究需要。
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#52中古四點探針電阻率測阻儀Napson RT-70, 機況良好，優惠出售中
中古四點探針電阻率測阻儀，優惠出售中～ 廠牌：Napson 型號：RT-70 年份：2009 機況良好，優惠出售中，意者請歡迎洽詢晨秘書^^ 晨 ...
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#53CDE resmap 178 四探针面扫描电阻率 - 仪器谱
50多项国际四探针测试仪领域的专利,保证业内技术领先! 1.业界最高重复性,重复性≤ ±0.02% (静态或者标准电阻);. 2.扫描速度最快的四探针电阻率测试仪:一分钟49个测量点 ...
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#544 point probe 四探针电阻测量仪4D 280SI
依次设置每个界面的主要参数： P/N 类型，. 膜厚度，wafer 尺寸，测量间距等数据，输入完成后可预览测试（Preview）的. 点的分布。确认无误后点击OK 保存。 Page 5. Edited ...
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#55[問題] 四點探針電導率換算問題- 看板Electronics - 批踢踢實業坊
... 最近在開發分新材料湊巧要算電導率，因此向其它實驗室借了四點探針測(想用低成本 ... X V/I 得到了20.38 但這個值似乎只是電流經過兩根探針的電阻值。
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#56高熵合金Alx CoCrFeNi (x = 0 - 臺灣國際科學展覽會
實驗結果呈現殘留85%的電阻率，表示高熵合金的晶格內有高濃度的本質缺陷 ... 熱控制器控制的加熱/冷卻平台上，進行四點探針電阻率測量。將平台置於真空.
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#57日本三菱化學台灣總代理） -阻抗率計MEASURES RESISTIVITY
低阻抗率計系列-四點探針低阻抗... □低阻抗率計系列(Low... <more>. 觀看詳細 ...
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#58四點探針台台體(SR-4) - 聖川實業有限公司
夾頭尺寸可以選擇：6英寸、8英寸、12英寸; 氣動的SR-4可用開關控制升降. 應用：. 表面電阻率測試; 薄膜切片電阻 ...
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#59RTS9、SDY5、RT70、DM11四探针电阻率测试仪
运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的 ...
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#60薄膜型積體被動元件之整合---總計畫.pdf
在氮氣流量為2sccm 時，Zr-Al-N 薄膜有最低之電阻率為459.55µ Ω-cm。 ... 構與特性以四點探針、表面粗度儀、掃瞄式電子顯微鏡與x 光繞射來量測。介電層材料包.
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#61透明導電薄膜簡介 - 台灣儀器科技研究中心
料，因此本身必須具備高可見光穿透率、低電阻率、良好表面粗糙度、化學穩定性質和高蝕. 刻速率等重要性質。 ... 率的四點探針儀(four-point probe measurement) 和.
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#62四点探针，薄层电阻测量系统 - 有机柔性太阳能电池
Ossila的四点探针系统是一个易于使用的工具，方块电阻，电阻率和材料的电导率的快速测量。 该系统包括一个四点探针，源测量单元和易于使用的PC软件.
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#63四探针测试仪 - 扫描电镜
自动四探针电阻率mapping测试系统是为晶圆电阻率绘图mapping设计的工业级自动四点探针电阻率测试系统。采用成熟的行业标准，提供快速、准确和可靠的晶圆样品电阻率分布 ...
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#64四探针电阻率方阻测试仪(KDY-1) - 新能源网
KDY-1型四探针电阻率测试仪是广州市昆德科技有限公司严格按照硅片电阻率测量的国际 ... 5、仪器采用触点电阻更低（＜5mΩ）、使用寿命更长的转换开头及继电器（＞10万 ...
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#65四線式與二線式電表之差異 - 唐和股份有限公司
但對於0.01Ω的低電阻，若以三用電表來測量，你會發現電表顯示的結果非常奇怪. ... 我們可以依此來計算銅線的阻抗，根據Resistivity Table銅的電阻率 ...
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#66噴射式大氣電漿系統之設計架設與多次沉積氧化鋅鎵薄膜性質之 ...
同時我們利用有限元素法模擬四點探針量測各層電阻率不同之多層膜，解讀每層電阻率與四點探針量測值之關係，並發現多層薄膜在廣範圍之電阻率且總厚度低於0.5倍之探針 ...
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#67標準型四點探針(SFP series)
手動下針; 探頭更換容易; 結構穩固; 探針材質：碳化鎢或鈹銅; 用於電阻、片電阻及電阻率量測. 回前一頁. gotop. 飛白技術服務股份有限公司新竹市牛埔南路496巷17號
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#68率测试仪和无接触方块电阻测试系统的需求论证和市场调
艺是必不可少的,为了更好的控制导电薄膜厚度､电阻率等参数并对相关加工工. 艺进行快速反馈,因而需要采购一台四点探针方块电阻测试仪来对导电类薄膜电.
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#69電阻率感測器和探針 - Mettler Toledo
梅特勒-托利多電阻率感測器可針對微電子和半導體製造業中的超純水（UPW）應用進行連續的電阻率測量和監測。這些電阻率探針採用先進的數位測量電路，為程序控制提供精確 ...
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#70小木虫论坛-学术科研互动平台
四探针法可以测半导体的电阻率，也可以测薄膜的方块电阻，我记得测试原理都一样啊， ... 长度现在有二十几mm，想做一下电阻率的测试，我看实验室的四点探针仪器是WC的 ...
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#71薄膜電阻
薄膜電阻這一概念的使用，與電阻或者電阻率相對，是它直接用四終端感應測量法（也稱為四點探針測量法)來測量。 薄膜電阻用歐姆/平方 (\Omega/\square) ...
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#72高阻值薄膜電阻之研究| 李鬢夯
薄膜片電阻值(R)使用四點探針量測,利用場發射型掃描式電子顯微鏡(FE-SEM)量測薄膜厚度。電阻率使用四 ... 常低的電阻溫度係數(TCR),但薄膜電阻率沒有明顯的增加。
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#73先进的四点探针金属化薄膜电阻率测试仪 - Alibaba.com
M3是一种多用途、高性价比的测量仪器，利用四探针测量原理测试材料电阻率/方形电阻。 基本参数 ...
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#74新功能来袭--四探针电阻率测试 - 电化学工作站
本方法的设置参数有：电阻形态及尺寸、探针形状及间距、激励电流及可测电阻范围、预热时间、样点间隔、样点数量、被测器件电动势等。 测试工具可根据被测产品及测试项目的 ...
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#75電磁耦合感測技術應用於導電膜之非接觸阻抗量測 - AOIEA
發的檢測電路對於不同的片電阻值(不同的導電膜厚度)具有不錯的分辨率，其量測 ... 目前檢測方法使用四點探針量測，但因為係屬接觸式方法，故必須靜止情況下量測，速度.
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#76文時黏貼條碼
濺鍍用靶材之氧化物燒結體的電阻率而定,於主要由銦所. 組成且含有鎢之氧化物燒結體的情形下,若電阻率達 ... 研磨,並利用四點探針電阻量測法(four-point probe method).
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#77CDE resmap 273 四探针面扫描电阻率电导率测试仪 - 仪器信息网
矫正的办法就是使用四点接触法，即四探针法。如图二，电流的路径与图一中相同，但是测量电压使用的是另外两个接触点。尽管电压计测量的 ...
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#78使用四点探针快速提取接触电阻率的扩展电阻建模 ... - X-MOL
接触电阻率的提取( ρ c) 与传统替代方法（例如传输长度方法，TLM）相比，使用四点探针(4PP) 方法需要的制造和测量步骤要少得多。
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#79JJG 508-2004 四探针电阻率测试仪 - 计量校准
四探针电阻率测试仪(以下简称电阻率测试仪),是用来测量半导体材料及工艺硅. 片的电阻率,或扩散层及外延层,以及绝缘衬底镀膜层方块电阻的测量仪器。它主要 ...
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#80亚微米尺度薄膜方块电阻的无损测试四探针法 - 江苏省特检院
6.1 将测试仪器、试样置于温度23℃±3℃，相对湿度不超过65%RH 的测试间，开机. 预热半小时以上。 6.2 试样尺寸大于10mm 10 mm 的需多点测量，（小样品可以在中心单点测试 ...
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#81四點探針量測儀 - UOI PLATFORM
Four-point probe measuring system 科別：化學/物理 學校：台東大學 廠牌與型號：凱思隆科技 重要規格： 服務項目：. 儀器基本原理及操作教學; 測量薄膜電阻率.
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#82TSP-2000R 四探针法测试电阻率- KEITHLEY官网
最后，电阻率通过样品的几何参数，输出电流源和测到的电压值来计算得出。 四探针法测量半导体电阻率测试方案，使用美国吉时利公司开发的高精度源测量单元 ...
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#83四探针电阻率/方块电阻测试仪 - 广州市昆德科技有限公司
KDY-1四探针电阻率/方阻测试仪（低阻型） · KDY-1A便携式电阻率/方阻测试仪 · KDB-3双组合四探针方阻/电阻率测试仪 · KDY-4四探针电阻率/方阻测试仪 · KDA-1智能四探针 ...
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#84半导体物理实验05 - | 四探针法测半导体材料电阻 - CSDN博客
一、实验目的和任务1、掌握四探针法测量半导体材料方阻的基本原理和方法；2、掌握半导体电阻率的测量方法。二、实验原理测试原理：直流四探针法测试 ...
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#85高温四探针电阻率测试仪样品检测 - 化工仪器
高温四探针电阻率测试仪样品检测， 采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；配备软件可以...
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#86S型源表搭建四探针法测量半导体电阻率实验 - 知乎专栏
半导体材料电阻率测试方法有很多种，其中四探针法具有设备简单、操作方便、测量精度高以及对样品形状无严格要求的特点。因此，目前检测半导体材料电阻 ...
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薄膜电阻的概念与电阻或者电阻率相对，可直接用四端点测量技术测量法（也称为四点探针测量法）或范德堡法来测量。 薄膜电阻用欧姆每平方（ ）来计量，可被应用于将薄膜 ...
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#88半导体表面电学特性微观四点探针测试技术研究进展
由于原理简单、精度高及操作简便，四探针法是测试半导体材料电阻率或电导率的首选方法之一。薄膜技术和材料表面研究的深入以及纳米器件和新型生物材料 ...
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#89四探针电阻率测试仪-dafa888经典版网页版登录 - 首頁
FT-335四探针电阻率测试仪功能概述按照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定 ...
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#90粉末电阻率测试仪价格 - 粉体网
首页> 产品中心> 电阻率测定仪> 自动四探针粉末电阻率测试仪 ... 测量到-5次方或-6次方，采用集成电路模块； USB，232通讯接口，直流恒流源，提供四点探针法测量模式， ...
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#91四探针电阻率测试仪_无追搜索
便携式硅材料测试仪SSRPT 四探针单晶硅多晶硅电阻率导电类型P/N. 欣阳CXT2663/2665/2668四探针方块电阻测试仪半导体电阻率电导率. 手动四探针测试仪RTS-8型数字式四探 ...
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2、四点探针法又称四点探针法，通常用于测量半导体的电阻率。四探头测量电阻率的方法有很大的优势。它不需要校准；有时，当使用其他方法测量电阻率 ...
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#95洛克儀器股份有限公司
洛克儀器推出的半導體電阻量測系統主要有: 1. 四點探針片電阻量測系統：主要針對片電阻(Sheet Resistance)的量測應用. 圖1 Four-point probe resistivity test circuit.
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#98四探针测试仪测量电阻率-测试狗·科研服务
1920 年第一次实际应用，测量地球电阻率Schlunberger ；. 1954 年第一次用于半导体电阻率测试Valdes；. 1980 年代具有Mapping 技术的四点探针出现 ...