你即將離開本站

並前往https://ndltd.ncl.edu.tw/r/57752843958069335862

以磁控濺鍍製備雙層鉬薄膜背電極之研究 - 博碩士論文網

利用冷場發掃描式電子顯微鏡觀察薄膜表面和斷面形貌，X光繞射儀進行薄膜結晶性和殘留應力分析，利用四點探針儀量測電阻率和片電阻。研究結果顯示在厚度為500 nm工作 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「四點探針片電阻」的人也找了：

  1. 四點探針公式推導
    2.
  2. 四點探針原理介紹
    3.
  3. 四點探針電阻率
    4.
  4. 四點探針優缺點
    5.
  5. 四點探針操作
    6.
  6. 片電阻電阻率換算
    7.
  7. 四點探針兩點探針
    8.
  8. 兩點探針原理
    9.