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衡陞科技成功驗證小於兩奈米先進製程故障分析用的探針規範

衡升科技发表针对14奈米到2奈米制程的探针. 奈米量测的挑战. 随者半导体元件和电晶体尺寸日渐微缩，摩尔定律越来越接近极限。

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