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材料破損分析 - 第 52 頁 - Google 圖書結果

子層厚度,分析後會在材料表面留下大約 0.1mm 直徑的凹痕,另一種模式(mode)是所謂的靜態二次離子質譜儀,此種二次離子質譜儀的入射離子是不加以聚焦的,入射點大約 3mm ...

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