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#1二次離子質譜 - 維基百科
它是用m，Xe等惰性氣體電離產生重離子來轟擊樣品表面，把打出試樣的碎片連同轟擊時彈射出去的原激發離子一同送入質譜計，進行質量分離與檢測，最後得到質譜。它的原理除了 ...
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#2飛行時間二次離子質譜儀的原理與應用
扇形磁場式與飛行時間式都提供相當. 飛行時間二次離子質譜儀可同時分析微量有機分子與無機元素，可分析氫原子到分子量上萬. 的合成與天然物高分子，可區別質量解析能力相差 ...
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#3二次離子質譜分析儀(SIMS)
二次離子質譜 分析儀(Secondary Ion Mass Spectrometer, SIMS)主要是利用離子高靈敏度的特性，針對樣品的表面微汙染、摻雜與離子植入的P/N濃度定量 ...
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#4二次離子質譜儀(SIMS)
述SIMS的分析原理。常用於二次離子質譜儀的一次離子物種包括O2. +?/sup>AO-，. Cs+，Ar+，Xe+，Ga+ 等，另有少數離子物種也有被利用於較特殊分析應用。目前. 最常用的一次 ...
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#5飛行時間二次離子質譜儀(TOF-SIMS) PHI nanoTOF
原理 說明指帶有幾千電子伏特能量的一次離子束入射樣品表面，在作用區域激發出不同粒子包括二次電子、中性微粒、二次離子、反射離子等，通過不同的探測器採集不同微粒可 ...
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#6二次離子質譜儀系統的研究
在上述幾種方法之中,SIMS 之原理是利. 用被加速的一次離子撞擊材料表面,而以質譜儀系統分. 析從樣品中被打出的二次離子。從二次離子的數量、質. 量、能量和其它訊息,可以 ...
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#7二次中性粒子質譜分析儀介紹
... 二次離子質譜儀(Secondary Ion Mass Spectrometer, SIMS)。本文介紹SNMS 檢測. 原理、檢測功能，並與二次離子質譜儀(SIMS)、 Auger 電子能譜儀(AES)、 X 光電子能譜儀.
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#8二次离子质谱（SIMS）的原理特点和应用
二次离子质谱仪 揭示了真正表面和近表面原子层的化学组成，其信息量也远远超过了简单的元素分析，可以用于鉴定有机成分的分子结构。二次离子质谱仪广泛应用 ...
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#9縱橫半導體檢測TOF-SIMS扮演要角- 電子技術設計
TOF-SIMS藉由帶有能量的入射離子轟擊待測樣品的表面，將目標區域的原子轟出而產生二次離子，二次離子經過加速後被導入飛行時間式的質譜分析系統。這些不同 ...
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#10二次離子質譜儀_百度百科
二次離子質譜 （ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的原子或原子團吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子, ...
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#11二次離子質譜儀／Secondary Ion Mass Spectrometer
二次離子質譜儀 是利用帶有特定能量的聚焦離子束撞擊在真空下的固態樣品，使表面的物質脫離樣品表面且離子化後，經由電場引導至質譜儀進行分析，以獲得不同質荷比(M/Z) ...
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#12二次離子質譜儀
二次離子質譜 （ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的原子或原子團吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子, ...
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#13FA机台原理——二次离子质谱仪
材料分析中，我们会接触到SIMS（Secondary Ion Mass Spectrometry）二次离子质谱仪，今天就跟大家聊聊SIMS的基本原理、优缺点和应用等。
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#14飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS
二次离子质谱 （Secondary ion mass spectroscopy，简称SIMS）是一种表面分析技术，是基于一次离子与样品表面的相互作用。SIMS工作原理是指带有几千 ...
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#15飞行时间——二次离子质谱仪 - 中国科学院上海应用物理研究所
飞行时间——二次离子质谱仪（TOF-SIMS）采用质谱技术分析材料表面原子层以确定表面元素组成和分子结构。其工作原理是样品表面被高能聚焦的一次离子轰击时，一次离子注入 ...
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#16二次離子質譜儀原理與生醫應用研討會
二次離子質譜儀原理 與生醫應用研討會. 本校於2012年4月已於教學研究大樓地下一樓建置完成「飛行式二次離子質譜儀」(Time of. Flight-Secondary Ion Mass ...
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#17二次离子质谱仪SIMS分析技术简介
二次离子质谱仪 也称离子探针，是一种使用离子束轰击的方式使样品电离，进而分析样品元素同位素组成和丰度的仪器，是一种高空间分辨率、高精度、高 ...
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#18飞行时间型二次离子质谱仪
离子 量照射样品时,除了可同时达. 到包括这些优点的质谱数据外,而且也几乎不会对粹品造成破坏。 -次离子. 0. 图1 s Ms的. 原理. 检测器. F c. 备. 二次离子. 一. 次离子. ( ...
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#19静态二次离子质谱的工作原理和主要优势
SIMS技术通过将样品表面轰击成离子，并利用质谱仪对这些离子进行质量分析，从而获取有关样品组成、结构和性质的信息。 静态二次离子质谱仪. SIMS技术原理.
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#20二次离子质谱仪
二次离子质谱 （ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的原子或原子团吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子, ...
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#21二次离子质谱
原理. 高能量的带电一次离子束轰击样品表面，使样品表面的原子或原子团吸收能量而 ... 二次离子质谱仪主要包括主真空室、样品架及送样系统、一次离子源、溅射源、电子中 ...
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#22二次离子质谱仪的质谱原理_工作原理
二次离子质谱仪 是用来检测材料的一种仪器，即是利用离子束把待分析的材料从表面溅射出来，然后再检测出离子组分并进行质量分析，它是对微粒进行同位素 ...
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#23一文读懂飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）
TOF-SIMS概述. 飞行时间二次离子质谱仪（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry ，简称TOF-SIMS）是通过用一次离子激发样品表面，打出极其 ...
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#24二次离子质谱仪
它是采用质谱技术分析表面原子层以确定表面元素组成和分子结构。其特点是高灵敏度和高分辨率。 基本结构; 组成; 原理; 优缺点; 应用. 基本 ...
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#25关于举办“飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）
DNL2003组于2022年中旬购置一台TOF-SIMS质谱仪（IONTOF M6），现邀请北京艾飞拓公司技术专家杜文峰介绍TOF-SIMS原理及应用，解答科研人员在研究中遇到的 ...
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#26二次離子質譜的原理組成和結構
在電壓作用下，離子從離子槍內射出，再經過幾個電磁透鏡使離子束聚焦，照射在樣品表面上激發二次離子。用一個電壓約爲1KV的引出電極將二次離子引入質譜儀 ...
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#27二次离子质谱技术在半导体材料中的检测原理及案例应用
在高真空条件下，具有一定能量几百至几万EV的初级离子束轰击待分析材料表面，导致材料表面原子、原子团簇或分子的二次发射，即离子溅射。然后，用质谱仪 ...
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#28二次离子质谱（SIMS）的介绍- 产品讯息- 资讯 - 中实仪信网
2 SIMS的基本原理. 离子探针的原理是利用能量为1～20KeV的离子束照射在固体表面上，激发出正、负离子（溅射），利用质谱仪对这些离子进行分析，测量离子 ...
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#29二次离子质谱大科普！TOF-SIMS及D-SIMS实例分析
Secondary-ion-massspectroscope（SIMS）它是一种基于质谱的表面分析技术，二次离子质谱原理是基于离子 ... 二次离子质谱仪飞行时间(TOF-SIMS)。在这种质谱 ...
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#30固體材料表面分析：二次離子質譜對生物樣品微區成像技術分享
TOF-SIMS的原理及特點飛行時間-二次離子質譜儀（TOF-SIMS），是一種非常靈敏的表面分析技術。它利用一次離子激發樣品表面微量的二次離子，根據二次 ...
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#31二次离子质谱仪原理简介- 气质联用（GCMS） - 仪器社区
二次离子质谱仪原理 简介二次离子质谱仪（Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS）又称离子探针（Ion Microprobe），是一种利用高能离子束轰击样品 ...
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#32二次离子质谱(SIM S) 分析技术及应用进展
图1 二次离子质谱原理示意图. F ig. 1 Schematic diagram of SIM S. 双聚焦型质量 ... 质谱仪分析煤的微观结构[J ]. 中国矿业大学学. 报, 1994, 23, (2): 6～ 12. [8] ...
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#33奈米級二次離子質譜分析Nanoscale Secondary Ion Mass ...
NanoSIMS 的物理原理. 扇形磁質譜儀物理分離不同質荷比的離子。當離子穿過垂直於二次離子速度向量的磁場時 ...
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#34離子探針分析儀
二次離子質譜 （secondary ion mass spectroscopy），是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的分析吸收能量而從 ...
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#35原理
其基本原理是使試樣中的成分在離子化器中發生電離，生成不同荷質比的帶正電荷離子 ... 感應耦合電漿體質譜儀（ICP-MS）。 二次離子質譜儀（SIMS）. 但以上的分類並不十分 ...
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#36Ar+共濺射與動態二次離子質譜術
在各種表面分析技術中，二次離子質譜儀(secondary ion mass spectrometry, SIMS)以極高的偵測靈敏度為優勢而佔有一席之地。SIMS 可協助. 解析各類材料，不論是無機材料中的 ...
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#37二次离子质谱仪（SIMS）分析方法介绍
2.原理. 样品表面被高能聚焦的一次离子轰击时，一次离子注入被分析样品，把动能传递给固体原子，通过层叠碰撞，引起中性粒子和带正负电荷的二次离子 ...
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#38二次离子质谱仪（SIMS）分析技术及其在半导体产业中的应用
昌鹏. 摘 要：二次离子质谱仪（SIMS）是一种成熟的应用广泛的表面分析技术，具有高灵敏度（ppm-ppb）和高分辨率。本文介绍了SIMS基本原理和分类及其在 ...
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#39二次离子质谱仪（SIMS）分析方法介绍>> 测试项目案例
2.原理. 样品表面被高能聚焦的一次离子轰击时，一次离子注入被分析样品，把动能传递给固体原子，通过层叠碰撞，引起中性粒子和带正负电荷的二次离子 ...
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#40具备离子选择和存储功能的二次离子质谱一次离子源
质谱仪 是一种可以用于分析样品中各种化学成分及其含量的科学仪器，被广泛的应用于科学和技术研究、医疗卫生、环境保护、食品安全等各个领域。 在常用的各种质谱仪器中，二 ...
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#41Mass spectrometry
在圖24中由四極柱質譜儀濾出之離子最後進入偵測系統。本偵測系統由17個分開的電極所構成，電極材料為Cu-Be所組成。當一個正離子打在第一個電極時會激發出2～3個二次 ...
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#42乾貨| 二次離子質譜大科普！TOF-SIMS及D-SIMS實例分析
Secondary-ion-mass spectroscope （SIMS）是一種基於質譜的表面分析技術，二次離子質譜原理 ... 飛行時間二次離子質譜儀(TOF-SIMS)。在此類質譜儀中，二次 ...
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#43产品-飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS) 德国IONTOF
... 仪（简称LEIS，型号Qtac100）和高分辨磁力显微镜（简称hr-MFM，型号VLS-80）。 产品基本原理. ToF-SIMS 原理视频介绍(10min). （点击图片了解ToF-SIMS 原理、功能、性能） ...
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#44时间的见证者：二次离子质谱（SIMS）技术揭示地球演化的秘密
SIMS技术的工作原理可以简单地理解为：将一个主要的离子束聚焦在样品表面 ... 然后，这些Pb离子被引导到一台双聚焦质谱仪中进行分析，这台仪器配备有 ...
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#45SIMS(secondary ion mass spectroscopy)二次离子质谱转载
1.仪器介绍二次离子质谱（SIMS）是一种用于通过用聚焦的一次离子束溅射样品表面并收集和分析喷射的二次离子来分析固体表面和薄膜的组成的技术。
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#46二次離子質譜儀相關資訊 - 夏槐的部落格
二次離子質譜儀 知識【原创】飞行时间-二次离子质谱仪基本知识_质谱综合讨论飞行时间-二次离子质谱仪,TOF-SIMS, 是一种既能测试有机物，又能测试无机物 ...
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#47二次离子质谱分析技术及应用研究- 豆丁网
... 离子束轰击样品,样品表面溅射出的二次离子按照荷质比的不同被分离开。IMS26f质量分辩率很高(MR=5000)30SiH被很好分辨出来。二次离子质谱仪具有深度 ...
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#48二次离子质谱
它的原理除了采用离子枪轰击激发以外，其余与质谱仪完全相同。SIMS一般采用四极质谱 ... 二次离子质谱仪包括（1）产生初级离子束的初级离子枪，（2）初级离子柱，将光束 ...
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#49二次离子质谱
二次离子 质谱原理科普及实例分析. 2021-11-05 01:11:02 二次离子质谱推荐内容: 二 ... “高分辨率二次离子质谱仪研制”项目启动暨实施方案论证会在青岛召开#科研#仪器仪表 ...
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#50TOF-SIMS | 概念理论| 技术资料
理论上在可分析的m / z范围值里，它并没有任何限制。 基本原理. 指带有几千电子 ... 在二次离子质谱仪(SIMS)领域，飞行时间质谱概念上是最简单的一种质谱仪，主要用于 ...
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#51Implant SIMS笔记(离子注入机二次离子质谱笔记) - 智于博客
二次离子质谱仪 依据分析仪种类，可区分为磁偏式质谱仪、四极式质谱仪与 ... 找时间可以约SIMS vendor 过来介绍SIMS 的测试原理和表征性。 剩余70%内容 ...
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#52二次离子质谱技术及对材料深度的分析检测应用
... 质谱接收后分析得到成分的化学信息是技术的原理。 通过SIMS技术可以完成二次离子质谱图、深度分析曲线图、表面化学成像等。因为表面溅射出的二次离子 ...
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#53SIMS二次离子质谱介绍
什么是二次离子质谱？ 二次离子质谱（secondary ion mass spectoscope) 是基于质谱的表面分析技术，原理是通过若干kev的一次离子束（通常是O2+/Cs+） ...
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#54飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS) - 康派斯
结合飞行时间质谱仪，该技术可提供出色的测量能力，灵敏度在百万分之一（ppm ... 飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）的工作原理是将聚焦的初级离子脉冲束光栅穿过感 ...
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#55二次离子质谱仪的质谱原理—标准集团（香港）有限公司
二次离子质谱仪 的质谱原理 ... 上海千实精密机电科技有限公司成立于2012年，专注于研发、设计及生产纺织测试仪器，为学术研究单位及检测机构提供纺织测试 ...
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#56二次離子質譜儀-SIMS
二次離子質譜儀 -SIMS. 一、系統規格及型號：. 1. 機型：CAMECA IMS 7F. 2. 質譜儀：Double focusing mass spectrometer. 3. 質量解析度(Mass Resolving ...
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#57藉由二次離子質譜儀
利用進階的二次離子質譜儀來檢測垂直共振腔面射型雷. 射（Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser，簡稱VCSEL）. 中各層的摻雜劑、雜質、組成成份和厚度。垂直共振腔. 面 ...
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#58二次离子质谱分析方法原理
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS），型号：TOF. 详情. 科学指南针-科研工具. ·1月前. 【质谱分析法】交叉学科的必备通用法则。质谱 ...
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#59飞行时间二次离子质谱法
Time of Flight Secondary Ion MassSpectrometry :TOF-SIMS原理超真空环境下向样品射入1次离子束，从样品的.
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#60二次離子質譜儀 :: 博碩士論文下載網
二次離子質譜 （SecondaryIonMassSpectrometry，SIMS）是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的原子或原子團吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子, .
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#61二次离子质谱仪（SIMS）的先锋和全球领导者 - CAMECA
动态SIMS的基本原理，可在亚纳米至几十纳米的深度分辨率下对痕量元素的主体组成和 ... 应用于放射性样品的安全处理和精确同位素及元素分析的带屏蔽功能的离子探针。
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#62網路上關於二次離子質譜儀-在PTT/MOBILE01/Dcard上的升學 ...
2022二次離子質譜儀討論資訊，在PTT/MOBILE01/Dcard上的升學考試資訊整理，找清大SIMS,高解析質譜儀,TOF-SIMS在Instagram影片與照片(Facebook/Youtube)熱門討論內容就 ...
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#63科學界的高手偵探—質譜儀
質譜儀 的原理. 用質量來測量物質的儀器稱為質譜儀，它主要分成三個部分，離子源、質量分析器及偵測器。其基本原理是使樣品在離子 ... 圖二：以液相層析串聯質譜分析液態嬰兒 ...
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#64飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）介绍 - 万博手机登录平台
上述特点使TOF-SIMS在材料的成份、掺杂和杂质沾污等方面的分析中拥有不可替代的地位。 2.原理 1. 利用聚焦的一次离子束在样品上进行稳定的轰击，一次离子 ...
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#65簡介液相層析質譜／質譜儀(LC MS/MS) - 衛生局- 金門縣政府
質譜儀 的原理是先讓受測物分子碎裂為數個帶電離子，當離子通過電磁場時，會受 ... 接下來質譜儀會偵測所有碎片中最大和次大的離子碎片，以某公司使用的LC/MS/MS為例 ...
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#66液相層析質譜儀
分析原理：. 當樣品經離子源游離化之後，經過第一個質譜儀MS-1 分離，進入通有碰撞氣體(collision gas) 之碰撞室(collision chamber)，使離子產生斷裂，再利用第二個 ...
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#67团体标准
该部分内容对应《标准》的第4 章内容，详细阐述了二次离子质谱仪检测半导体氮化镓. 材料中的痕量杂质硅、铝、锌、铁浓度及分布的方法原理。经过讨论和征求意见后决定予以.
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#68質譜分析會使用哪些類型的儀器？
串聯式四極桿或三段四極桿可以執行單四極桿質譜儀能做的所有實驗，因此這種並排比較不涉及硬體或樣品轉換。使用同一台GC/MS/MS儀器過濾作為前驅物的146 m/z丁酸離子，將其 ...
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#69材料化学分析的物理方法
... 质谱仪和飞行时间质谱仪的工作原理。 图14. 四极质谱仪的 ... 考虑到溅射产物及产率强烈依赖于所用的离子的性质，为了特定的目的，二次离子质谱仪常常装备特殊的离子枪。
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#70二次离子质谱分析技术及应用研究
二次离子质谱仪 (SIMS)的原理及应用[J].中国集成电路,2005(8):74-78. 被引量：4; 10余兴,王海舟,李小佳.辉光放电光源在分析应用上的改进及展望[J].分析仪器,2006(4):9-14 ...
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#71感應耦合電漿質譜(ICP-MS)原理和基礎知識–讓你第一次接觸 ...
... 2. ICP-MS的離子源. 感應耦合電漿的形成，需有穩定的高純度氬氣(至少 ... 進行ICP-MS質譜分析時，樣品介面(如圖1) 的功能及使用原理是將電漿中的樣品離子有效地送進質譜儀。
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#72SIMS质谱究竟有啥“魔力”？
今天我们主要阐明了SIMS 技术的原理、仪器类型，简要介绍了其主要应用，分析了其特点。 二次离子质谱仪(Secondary-ion mass spectrometry，SIMS)也称离子 ...
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#736.2 扇形场质谱仪
质谱仪 与残余气体分析 · 扇形场质谱仪; 工作原理. 6.2.1 工作原理. 扇形体质谱仪的工作 ... 如果离子撞击该表面，则触发二次电子雪崩，且通 过施加在板上的电压向探测器加速 ...
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#74sims分析原理的問題包括PTT、Dcard、Mobile01，我們都能 ...
另外網站二次離子質譜儀(SIMS) - MA-tek 閎康科技也說明：材料經由帶有能量的入射離子轟擊而產生二次離子，二次離子經加速後進入二次離子質譜分析系統運用 ...
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#75二次离子质谱仪SIMS
·利用质谱法分析由一定能量的一次离子轰击在样品靶上溅射产生的正、负二次离子。 二次离子质谱仪工作原理: 一定能量的离子轰击固体表面引起表面原子、分子 ...
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#76淺談離子阱解析度- 質譜專文Technical Articles - 新聞訊息
... 次氣體碰撞裂解(collision induced dissociation)的功能，根據碎片質量推測出原始分子離子的結構。離子阱質譜的分析原理是依據Mathieu equation所導出 ...
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#77飞行时间二次离子质谱法（TOF-SIMS）
三、设备原理. 飞行式二次离子质谱（TOF-SIMS）是超真空环境下向样品射入一次离子束，从样品的浅表层（1-3 nm）释放出二次离子。将二次离子导入飞行时间（TOF型）质谱仪 ...
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#78国家标准《硅单晶中氮含量的测定二次离子质谱法》 编制说明（ ...
SIMS 测氮的原理如下：. 在高真空（真空度优于5×10-7 Pa）条件下，铯离子 ... 二次离子质谱仪存在记忆效应，假如测试过含氮量高的样品，在二次离子质谱 ...
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#79硅单晶中氮含量的测定二次离子质谱法
4 原理. 在高真空（真空度优于5×10-7 Pa）条件下，铯离子源产生的一次离子 ... 将其中的离子（即二次离子）引出，通过质谱仪将. 不同质荷比的离子分开 ...
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#80二次离子质谱仪技术资料
二次离子质谱仪 的质谱原理. 二次离子质谱仪是用来检测材料的一种仪器，即是利用离子束把待分析的材料从表面溅射出来，然后再检测出离子组分并进行质量分析，它是对微粒 ...
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#81飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS
分析原理：飞行时间-二次离子质谱仪（TOF-SIMS），是一种非常灵敏的表面分析技术。它利用一次离子激发样品表面微量的二次离子，根据二次离子飞行到探测器的时间不同来测定 ...
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#82millbrook二次离子质谱
二次离子质谱 （Secondary Ions Mass Spectrum 简称SIMS）采用质谱技术分析表面原子层以确定表面元素组成和分子结构。它的分析原理非常容易理解：将需要分析的样品放置在 ...
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#83氣相層析質譜儀Gas Chromatography- ...
M+ 稱為分子離子(molecular ion)或原離子(parent ion)，增加電子能量即增加M+產量 ... 若連續二次登記. 而未使用者，則停止使用權利一個月。 3.原則上預約使用時段以一天 ...
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#84SIMS - 材料分析- 服務項目
SIMS(Secondary Ion Mass Spectrometry) 二次離子質譜儀. SIMS以帶能量之一次離子入射而撞擊樣品表面，激發出二次離子，藉由量測此二次離子之荷質比(M/e)值，即可鑑定其 ...
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#85奈米級二次離子質譜儀計畫( NanoSIMS ) - ASIAA - 中央研究院
奈米級二次離子質譜儀實驗室由中研院天文及天文物理研究所與地球科學研究所共同創立。主要研究重心為早期太陽系，使用CAMECA公司的NanoSIMS 50L儀器分析 ...
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#86質譜儀-觀念(上) - YouTube
質譜儀 -觀念(上) 質譜儀 ，全名為Mass spectrometry，簡稱MS 原理 為利用 離子 荷質比的不同，分離各 離子 ，以此測定其分子量。 分析步驟： 離子 化→質量 ...
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#876.1 质谱的原理及质谱仪（下）
6.4 质谱中离子的类型（上）. 为你推荐(16). 07:55. 12.1 原子质谱法的基本原理和质谱仪器的主要性能指标（下）. 1344次播放. 02:25. 2分钟带你看懂极紫外光刻机的工作原理.
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#88如何利用低噪声、高速ADC增强飞行时间质谱仪性能？
这些离子随后沿着无场漂移路径行进，并以不同的飞行时间到达检测器——较轻的离子先于较重的离子到达，如图2所示。 ... 在TOF MS中，质谱是来自许多次重复的 ...
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#89束蕴仪器-PHI-高性能飞行时间二次离子质谱仪
01. TRIFTTM 三次聚焦分析仪适用於无论是平面或非平面及形状复杂的样品02. 革新的离子以实现高精度的测量03. 多种溅射离子实现三维成像的深度分析04.
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施正雄. 11-2-7 離子源(Ion source)及二次離子質譜儀(SIMS)離子源質譜儀即為常稱的「二次離子質譜儀(secondary ion MS, SIMS)」。這由離子(如Ar+)撞擊樣品(M)產生離子 ...
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#93中国科学院化学研究所2023博士人才全球巡回招聘会
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... 離子束(focused ion beam-FIB)技術切成極薄試片直接觀察。還有些常用的製備方法如:冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法、研磨法等。 TEM 的成像原理 ... 二次離子質譜儀 ...
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