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TOF-SIMS(飛行時間二次離子質譜儀) - 華人百科

TOF-SIMS(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)是通過用一次離子激發樣品表面，打出極其微量的二次離子，根據二次離子因不同的質量而飛行到探測器的時間 ...

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