你即將離開本站

並前往https://www.ametek.com.tw/products/businessunits/materialsanalysis/cameca-sas

CAMECA | 電子探針顯微分析(EMPA) | 二次離子質譜儀(SIMS)

CAMECA 是二次离子质谱(SIMS)、电子探针层析(EPMA)、浅表面探针(LEXES) 和原子探针(ATP)等高端质谱分析仪的全球领导者.

確定！ 回上一頁

查詢 「二次離子質譜儀」的人也找了：

  1. 二次離子質譜儀原理
    2.
  2. tof-sims
    3.
  3. 二次離子是什麼
    4.
  4. 二次離子質譜儀台灣
    5.
  5. sims分析原理
    6.
  6. 二次離子質譜sims
    7.
  7. Secondary Ion mass spectroscopy
    8.
  8. tof sims xps比較
    9.