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二次離子質譜儀
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飞行时间——二次离子质谱仪
飞行时间——二次离子质谱仪(TOF-SIMS)采用质谱技术分析材料表面原子层以确定表面元素组成和分子结构。其工作原理是样品表面被高能聚焦的一次离子轰击时,一次离子注入 ...
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