你即將離開本站

並前往https://m.antpedia.com/news/2304398.html

二次离子质谱（SIMS）的原理特点和应用 - 分析测试百科网

二次离子质谱 （secondary ion mass spectroscopy），是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器，它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「二次離子質譜儀」的人也找了：

  1. 二次離子質譜儀原理
    2.
  2. tof-sims
    3.
  3. 二次離子是什麼
    4.
  4. 二次離子質譜儀台灣
    5.
  5. sims分析原理
    6.
  6. 二次離子質譜sims
    7.
  7. Secondary Ion mass spectroscopy
    8.
  8. tof sims xps比較
    9.