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X光粉末繞射儀(XRPD) - 國立清華大學貴重儀器使用中心

薄膜立面繞射分析套件（In-plane Unit）; 薄膜量測套件（Thin Film Unit） ... 搭配不同掃瞄模式及分析軟體，可針對多層薄膜作膜厚（Thinckness）、密度（Density）； ...

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