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X射线光电子能谱、XPS谱图分析 - 失效分析-成分分析
通过收集在入射X光作用下,从材料表面激发的电子能量、角度、强度等信息对材料表面进行定性、定量和结构鉴定的表面分析方法。 一、XPS用来做什么:.
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