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超音波掃瞄(SAT 檢測) - iST宜特

SAT超音波可用來檢測晶片元件內部不同位置的脫層(Delamination)、裂縫(Crack)、氣洞及粘著 ... 超高解析度3D X-Ray顯微鏡 · 掃描式電子顯微鏡(SEM).

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