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國立臺灣大學電機資訊學院光電工程學研究所碩士論文利用X 光 ...

影響X 光繞射頻譜的量測訊號。 1.3. 論文架構. 本論文主要在觀察材料中雙晶缺陷成長的結構特性。方法為利用X 光繞射. 360° ϕ 角掃描，分析不同成長溫度下GaAsSb 薄膜中 ...

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