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X 光繞射(XRD) - 概述| Malvern Panalytical

X 光繞射 (XRD) 是一種多功能的非破壞性分析技術，可用於分析物理性質，如粉末、固體與液體樣品的相組成、晶體結構及方向。 許多材料都是由微小晶粒所構成。這些晶體的化學 ...

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