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wafer晶片
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矽晶片斷裂強度測試方法與破壞模式分析
再者,晶背研磨拋光後,需再經. 由晶粒切割的程序,將晶圓切割成原. 設計與適合封裝的尺寸大小,在此切. 割過程中微小的裂縫便沿著切割中的. 晶粒邊緣處產生,因而造成殘留 ...
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