你即將離開本站

並前往https://edu.tcfst.org.tw/web/tw/class/show.asp?courseidori=08S042

[08S042]CMOS積體電路Latch-Up/Transient Latch-Up測試與防護

CMOS積體電路或電子產品之EOS(含LU)破壞是影響IC或零組件可靠性及延緩上市的重要因素，因此無論由製程上、設計上全方位的防護措施是必要的。

確定！ 回上一頁

查詢 「transient電子」的人也找了：

  1. transients中文
    2.
  2. 穩態響應計算
    3.
  3. Transient response
    4.
  4. Load transient
    5.
  5. 暫態響應公式
    6.
  6. Transient state
    7.
  7. 暫態穩態
    8.
  8. 一階暫態響應
    9.