你即將離開本站

並前往http://www.bilibili.com/read/cv11514258

TOF-SIMS基本原理、技术特点、应用案例，当堂答疑一分不花！

飞行时间二次离子质谱仪（简称TOF-SIMS），使用一次脉冲离子入射固体材料表面，通过表面激发出的二次离子的飞行时间测量其质量, 以表征材料表面的元素 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「tof-sims」的人也找了：

  1. tof sims xps比較
    2.
  2. sims分析
    3.
  3. 飛行時間質譜儀原理
    4.
  4. ToF 飛行時間
    5.
  5. ToF 公式
    6.
  6. 二次離子質譜儀
    7.
  7. SIMS 縱深分析
    8.
  8. 飛行時間質譜儀
    9.