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TOF-SIMS（飛行時間二次離子質譜儀）_百度百科

TOF -SIMS（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）是通過用一次離子激發樣品表面，打出極其微量的二次離子，根據二次離子因不同的質量而飛行到探測器的時間 ...

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