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飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）

飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）是一種表面分析技術，可將脈衝的初級離子束聚焦到樣品表面，在濺射過程中產生二次離子. 分析這些次級離子可提供有關表面上存在的分子、 ...

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