你即將離開本站

並前往https://www.digitimes.com.tw/tech/dt/n/shwnws.asp?id=0000511853_AS79OSTV4KM4UG4UVHZ90

汎銓積極布局TEM 強化半導體先進製程分析能量 - 電子時報

所謂TEM，是利用高能電子束穿透超薄樣品，擷取直射電子或彈性散射電子成像，抑或作成繞射圖案，以解析超薄樣品的微結構組織及晶體結構。

確定！ 回上一頁

查詢 「tem繞射圖分析」的人也找了：

  1. tem分析方法
    2.
  2. tem晶格間距
    3.
  3. tem圖
    4.
  4. tem用途
    5.
  5. tem分析軟體
    6.
  6. tem原理
    7.
  7. tem明場暗場
    8.
  8. tem成像原理
    9.