為什麼這篇tem用途鄉民發文收入到精華區：因為在tem用途這個討論話題中，有許多相關的文章在討論，這篇最有參考價值！作者AaronPA ()看板ChemEng標題Re: [轉錄][學科] SEM相關問題時間Fri J...
※ 引述《iwantzzz (努力讀書)》之銘言：
: ※ [本文轉錄自 Chemistry 看板]
: 作者: blackangel (白雲絲) 看板: Chemistry
: 標題: [學科] SEM相關問題
: 時間: Sun Jun 28 00:54:55 2009
: 1.掃描電子顯微鏡/X 射線能譜法（SEM/EDS）在鑑識上常用以觀測微細碎粒的形狀
: 及分析所含的金屬元素。試說明
: (a)微細碎粒在螢幕上構成影像的原理；
: (b)X 射線產生的機制及K 系列（K series）譜線及L 系列（L series）譜線的區別。
: 並說明所得 X 射線能譜的特性與用途。
: 2.請比較掃瞄式電子顯微鏡(SEM)及穿透式電子顯微鏡(TEM)的相異處。
: 這些問題 我有先查過原文書了
: 但覺得說法有點抽象
: SEM是產生二次電子 所成像的。TEM是靠高壓電子源。
: 但我比較不出SEM和TEM的優劣處
SEM TEM兩個我都會用 但是沒修過電子顯微鏡的課XDDDD
SEM TEM 最大的差別就是解析度
TEM技術好的 可以看到1600Kx SEM大概只能到100Kx
再來就是電子加速電壓 TEM:200kV SEM:15~20kV
SEM跟TEM比起來 SEM根本是玩具
TEM光alignment就差不多有12個電子透鏡要校正好
SEM可以拍出蠻漂亮表面特徵 但是你想看~5nm奈米粒子
請選用TEM
SEM影像是透過二次電子 TEM則是電子直接穿過去 所以可以玩diffraction
Selected Area Diffraction可以讓你判斷你在看哪個晶面
利用Kikuchi map走到你想要的晶面
然後轉動sample去看你想看的晶面 後拍出晶格影像
要用TEM對晶體繞射學還有電子光學要有一定的了解
當你可以拍出晶格影像時 那成就感簡直無法形容 (只有爽)
又當你同學發了paper裡面的TEM照片慘不忍睹時 那又是一種奇怪的感覺
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※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc)
◆ From: 72.33.134.1
推 exponential3:推 07/03 00:50
推 honna:場發射式SEM其實倍率可以到500k以上，但得取決於sample性質 07/03 08:48
推 AQUAzero:用200kV的拍出晶格影像沒甚麼吧?? 已經算HRTEM了耶 07/03 12:59
→ AQUAzero:SEM也有到30kV 可以拍到800kX 而且SEM影像調整技術比TEM 07/03 13:01
→ AQUAzero:需求更高 TEM是校正程序比較多 SEM是影像處理困難 07/03 13:02
→ AQUAzero:更何況 有的SEM可以一次放個一公斤的試片 在低真空下操作 07/03 13:03
→ AQUAzero:TEM想做到?? 慢慢去開發吧~~ 07/03 13:03
→ AQUAzero:只是在哪種狀況下 選用哪種儀器做研究而已 沒有跟哪個比 07/03 13:04
→ AQUAzero:起來 哪種儀器是玩具這種情形發生 07/03 13:05
→ AQUAzero:話說100kV的TEM放大倍率還沒有高檔SEM大咧 07/03 13:06
→ AQUAzero:只是你有HRTEM可以使用而已囉 07/03 13:07
推 AQUAzero:其實我目前TEM的操作比SEM還要熟很多啦 電子繞射也只是 07/03 13:51
→ AQUAzero:TEM其中一種功能而已 很有很多功能 你還沒用到呢 07/03 13:52
→ AQUAzero: 還 07/03 13:53
推 a7776041:SEM最高可以看到50萬倍吧 只是清不清楚是另外一回事... 07/03 20:55
推 Yamoto56:SEM真正要校正比TEM難...只是平常都調好好的 07/03 21:55
推 teardropbox:取決於看你要觀察什麼 說TEM比SEM好 結論下得很怪 07/03 22:28
推 chingmao:支持原PO 我也認為 SEM像是玩具(平常都條好好的)! 07/04 19:39
推 ericnhit:雖然都是電子顯微鏡 但是針對性差那麼多 玩具說很可笑! 07/04 19:44
→ BlueWhoSay:.......................... 07/04 21:04
→ BlueWhoSay:奈米粒子當道的結果? 07/04 21:04
推 JustMing:問個問題，業界有哪家家裡有擺TEM的儀器? 07/05 15:42
→ stenver:覺得原PO說的不完全正確喔，SEM有他自己不同於TEM的優點 07/08 15:46
→ stenver:SEM可以外掛的儀器不只EDS還有近年來發展出來的儀器 07/08 15:48
→ stenver:如 EBSD就是可以利用表面背向散射電子的繞射 07/08 15:49
→ stenver:用蒐集到的菊池線可以分析試片表面的晶體方向 相分析等 07/08 15:52
→ stenver:尚有其他如歐傑 CL等外掛儀器 07/08 15:55
→ stenver:利用這些強大的外掛儀器加上SEM試片處理難度較低 07/08 15:56
→ stenver:加上分析範圍較大 這些是有別於TEM的優點 07/08 15:57
→ stenver:雖然不可否認TEM操作集分析上難度較高 07/08 15:58
→ stenver:但不能因此而否決掉SEM的潛力跟發展性 07/08 15:59
→ stenver:以上是小弟小小的建議 如有錯誤尚請糾正 謝謝!! 07/08 16:00
推 wwwea:SEM的EBSD也是利用繞射 原PO不要偏好TEM XD 07/11 00:18
推 sendtony6:聽你在放屁... 01/27 16:37
→ sexremix:完全就是不懂原理的人 114.35.139.238 11/06 23:48