雖然這篇穿透式電子顯微鏡掃描式電子顯微鏡鄉民發文沒有被收入到精華區:在穿透式電子顯微鏡掃描式電子顯微鏡這個話題中,我們另外找到其它相關的精選爆讚文章
在 穿透式電子顯微鏡掃描式電子顯微鏡產品中有3篇Facebook貼文,粉絲數超過7,787的網紅官逼民反_人民當家,也在其Facebook貼文中提到, #新型冠狀病毒 引發武漢肺炎疫情備受全球關注,美國專家近日公布在掃描式和穿透式電子顯微鏡上觀察到的 #病毒影像,並說這種病毒看起來與SARS和MERS病毒並無太大差異。(C編🐸)...
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SEM :scanning electron microscopy 掃描式電子顯微鏡利用電磁透鏡聚焦高能的電子束而在試片掃描樣品依其所激發出的二次電子與背向散射電子的接收對試片 ...
由透射電子顯微鏡拍攝的葡萄球菌細胞,放大倍數為50000x。 穿透式電子顯微鏡(英語:Transmission electron microscope,縮寫:TEM、CTEM),簡稱 ...
TEM/STEM(穿透式電子顯微鏡/掃描穿透式電子顯微鏡)是密切相關的技術,主要是使用電子束讓樣品成像。使用高能量電子束,讓超薄樣品的圖像分辨率可以 ...
儀器中文名稱:場發射掃描/穿透式電子顯微鏡 · 儀器英文名稱:Field Emission Scanning/ Transmission Electron Microscope · 儀器英文簡稱:FES/TEM · 儀器設備說明: · (1) ...
而穿透式電子顯微鏡是利用穿透電子呈像;掃描式電子顯微鏡則以二次電子或背向散射電子來呈像。 掃描式電子顯微鏡主要包括兩個部份:一為提供並聚集電子於樣品上產生訊息的 ...
電子槍-有鎢絲、LaB6、場發射式三種(與掃描式電. 子顯微鏡相似)。下圖為場發射電子槍結構示意圖。 Transmission Electron Microscope. Page 7. TEM ...
掃描穿透式電子顯微鏡 的工作原理 ... 將高能電子照射在固體樣品上,會產生穿透電子、反射電子、二次電子、X射線等信號,如圖3-22所示。這些信號可以通過儀器處理,以得到樣品 ...
穿透式電子顯微鏡 (Transmission Electron microscopy, TEM)主要是一種使用高能量電子束讓超薄的樣品成像,其影像解析度可達0.1奈米的原子等級,用以 ...
穿透式電子顯微鏡 (Transmission electron microscopes, TEMs) 隨著新一代的自動化系統、簡易操作的軟體介面與放置儀器的空間減少而越容易使用,但對於從未 ...
超低功率穿透式/掃描式電子顯微鏡 ; 英文名稱. Benchtop LVEM5 5kV Low Voltage Electron Microscopy- TEM /SEM mode ; 功能說明.
解析型掃描穿透式電子顯微鏡. 適用於固體奈米材料、半導體電子材料、陶瓷礦物材料、金屬材料。以300KV高能量電子穿透試片,可觀察物體之形貌、量測尺寸、分析材料內部 ...
‧ 電子顯微鏡(electron microscope,EM) 一般是指利用電磁場偏. 折、聚焦電子及電子與物質作用所產生散射之原理來研究物質構. 造及微細結構的精密儀器。 ‧ 近年來,由於 ...
穿透式電子顯微鏡 具有極高的穿透能力及高解析度,已成為材料科學研究上極有效的工具之一。 電子顯微鏡的構造與光學顯微鏡的構造其原理是相似的,只是電子顯微鏡除了本 ...
此台電子顯微鏡電子發射源是熱激發之LaB6 ,具有較高電子束的優點。除一般放大成像,觀察一般試片形貌外,在操作明、暗場像及繞射圖譜相互之切換時,影像方位不變。
電子顯微鏡 依照其操作方式及偵測方式的不同,. 可分為兩種: (1)掃描式電子顯微鏡(scanning electron microscope,. SEM). (2)穿透式電子顯微鏡(transmission electron.
高解析掃描穿透式電子顯微鏡TEM. 儀器性能: 型號:JEM2100. 1. 解析度︰. 格子像( Lattice Image )︰0.14nm. 粒子像( Point Image )︰0.19nm. 2. 試片座傾斜度︰± 25°.
書名:穿透式及掃描式電子顯微鏡生物技術,語言:繁體中文,ISBN:9789571200439,頁數:363,出版社:曉園,作者:張喜寧. 夏鎮洋,譯者:張喜寧.
中文名稱:掃描式電子顯微鏡(SEM)及穿透式電子顯微鏡(TEM). 英文名稱:Scanning electron microscope(SEM)and Transmission electron microscope(TEM).
英文名稱, Transmission Electron Microscope, TEM. 功能說明. l 具有掃描(STEM)及穿透(TEM)功能,可觀察材料、生物、細胞、高分子軟性材料的微細 ...
生物型穿透式電子顯微鏡(BioTEM) · 儀器開放年度:2012年 · 廠牌及型號:. TEM:日本Hitachi, HT7700 · 重要規格:. TEM:加速電壓可達120kV · 主要附件:. 超薄切片機(Leica, ...
根據電子照射在標本上的方式以及接收呈像的訊息種類,電子顯微鏡可分為穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, TEM),掃描式電子顯微鏡(Scanning ...
部穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron. Microscope, TEM)。以下我們將針對掃瞄式. 電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope,. SEM) 之原理與應用做一廣泛之介紹 ...
高解析穿透式電子顯微鏡. 英文名稱. High Resolution Transmission Electron Microscope. 圖片. 功能說明. 試片表面及截面幾何外觀檢測、樣品晶格 ...
試片必須被電子穿透才能觀察到影像,所以試片要細薄,因此不容易製作,失敗率高。 掃描式電子顯微鏡(scanning electron microscope;SEM):. 它是以電子反射的方式來觀察 ...
本中心設備包括穿透式電子顯微鏡(TEM)Hitachi HT 7700、高解析掃描穿透式電子顯微鏡(STEM)JOEL JEM 2010及能量分散光譜儀(EDS)、掃描式電子顯微鏡(SEM) ...
在沖繩科學技術大學院大學影像研究支援科3 個月,主要在電子顯. 微鏡( EM )這個組別見習,其主要設備有穿透式電子顯微鏡( TEM )、. 高分解能電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡( ...
穿透式電子顯微鏡, transmission electron miscroscope; TEM. 學術名詞 畜牧學, 穿透式電子顯微鏡, TEM; transmission electron microscope. 學術名詞 紡織科技
電子顯微鏡 類陽明校區,代管儀器,收費使用,TEM型號:JEM-1400plus,JEM-2000EX II;使用資格請洽儀器負責人;管理單位:解剖所鄭瓊娟老師,管理人員:電顯室余玉英 ...
一、JEOL JEM-1400plus穿透式電子顯微鏡 · 二、JEOL JEM-2000EXII穿透式電子顯微鏡 · 三、JEOL JSM-7600F超高解析熱場發射掃描式電子顯微鏡 · 四、JFC-1200 Auto Fine Coater ...
1931年諾貝爾獎得主Ruska 與他的同事 Knoll將電磁透鏡的構想應用於實驗儀器上,他們在實驗室建造出第一部穿透式電子顯微鏡 (Transmission Electron Microscope, ...
分析原理:. 穿透式電子顯微鏡(Transmission Electronic Microscope, TEM)具備超高解像能力,能夠觀察奈米尺寸的材料與結構。目前於材料科學及生物醫學中被廣泛利用, ...
材料發展進入奈米世界,場發射穿透式電子顯微鏡成為奈米材料分析之利器,原子級高解析度,配合上奈米微區X光能量分散光譜儀、電子能量損失譜儀,可對 ...
在奈米觀測的世界裡,有四種顯微鏡被我們廣泛的運用,分別為掃描式穿隧電子顯微. 鏡(STM)、原子力顯微鏡(AFM)、掃描式電子顯微鏡(SEM)以及穿透式電子顯微鏡(TEM),.
系統主要分四個部份:(1) TEM 主機, (2)電子能量損失譜儀(EELS), (3) 掃描穿透式電子顯微. 鏡(STEM), (4) X 射線能量散佈分析儀(EDS)。
再用1 % 檸檬酸鉛(lead citrate) 染色15 分鐘,以一次蒸餾水清洗;最後以穿透式電子顯微鏡進行檢查。 染色. 1.將病毒液及介面活性劑(0.1% Bacitracin) 各滴一滴於parafilm ...
場發射掃描式電子顯微鏡(FE-SEM)JEOL JSM-6500F · EDS用於成份分析,包括定性、半定量、特定區域化學元素之mapping及line scan等。 · CL用於發光光譜量測、影像分析、微量 ...
scanning electron microscope),或是已跳脫傳統電子顯微範疇的原子力顯微鏡 ... 舉原子力顯微鏡、能量過濾穿透式電子顯微鏡及環境掃描式電子顯微鏡在微.
電子顯微鏡 基本上可分為穿透式和掃瞄式兩類‧穿透式電子顯微鏡,是用來觀察超薄切片內的細微構造,. 為這個內容推薦標籤. 請以半形逗號分隔每個標籤,例如:青蛙,農田.
掃描式電子顯微鏡 (scanning electron microscopy, SEM)為一種. 電子光學成像技術,可以產生表面形狀 ... 結合了傳統穿透式電子顯微鏡系統與掃描控制,可得到之樣品分.
傳統負染; 樹脂包埋; 常溫超薄切片; 冷凍超薄切片; 臨界點乾燥系統; 低溫電子顯微鏡轉換系統; 液態樣品電子顯微鏡製備; 穿透式電子顯微鏡; 掃描式電子顯微鏡 ...
如此引人入勝的效果,全都是掃描式電子顯微鏡(scanning electron microscope, SEM)的傑作。SEM的放大倍率,可以高達100萬倍。然而它們的放大影像之所以 ...
光學系統是穿透式電子顯微鏡的主體,其構造如圖1.1,包. 括電子槍、電磁透鏡、像差補償器、螢幕、照相機等,各部位之功能敘述如下: 1. 電子槍(Electron Gun):由高壓電源 ...
高解析度穿透式電子顯微鏡(high resolution transmission electron microscopy, HRTEM) 配備之. 場發射式電子槍可視為點光源,球面波方向被侷. 限,相位接近,能量分佈接近 ...
穿透式电子显微镜 (TEM) - 穿透式電子顯微鏡(Transmission electron microscope, TEM) 穿透式電子顯微鏡具有極高的穿透能力及高解析度,已成為材料科學 ...
查詢中心或儀器 ; 7, 國立中山大學貴重共同儀器中心. Joint Center for High Valued Instruments at NSYSU. 儀器中文名稱, 【EM001600】JEOL 3010 TEM穿透式電子顯微鏡 儀器 ...
穿透式電子顯微鏡 那裏買最便宜?讓飛比幫你找購物優惠,收錄穿透式電子顯微鏡在MOMO、蝦皮優惠與特價商品,飛比價格讓您輕鬆比價、花最少買最好.
構,利用穿透式電子顯微鏡(transmission electron microscope;TEM)、掃瞄. 式電子顯微鏡(scanning electron microscope;SEM)與能量散佈X 光光譜儀.
各式顯微鏡比較表. 光學顯微鏡(OM). 掃描式電子顯微鏡. (SEM). 穿透式電子顯微鏡. (TEM). 掃描探針顯微技術. (SPM). 橫向解析度.
穿透式電子顯微鏡 (transmission elec-. 構。除本身單體結構的化學組成外,比內部tron microscope, TEM)是利用高壓電加速. 層級結構乃是决定外在高分子材料性質表現電子 ...
【中文書】 書名:近代穿透式電子顯微鏡實務第二版作者: 鮑忠興劉思謙出版社:滄海書號: PH0117 ISBN:9789865937225 本書簡介本書以穿透式電鏡初學者和材料分析工程師 ...
過去乃是以場發射掃描式電子顯微鏡(field emission scanning electron microscopy ... 因此本實驗更進一步地運用掃描穿透式電子顯微鏡(scanning transmission electron ...
高解析掃描穿透式電子顯微鏡(HR-STEM). 分享 · 1. 具有掃描(STEM)及穿透(TEM)功能,可觀察材料、生物、細胞、高分子軟性材料的微細組織,擷取明視野(Bright Field, BF)、暗 ...
目前最好的SEM可以達到10nm以下,不過它所選用的操作環境一定要在真空裡面,這個我們等一下會講到為什麼要真空,而TEM亦是屬於這種電子顯微鏡的一種,它叫做穿透式電子 ...
Features · 全新智慧設計:洗鍊的外觀、卓越的機械與電子穩定度搭配專門為分析式電子顯微鏡設計的全新操作介面 · 四級聚光電磁透鏡(Condenser lens): · 高階掃描系統: · Pico ...
穿透式電子顯微鏡 【TEM; JEOL JEM-2010】 · 1. 試片:直徑3mm大小,0.1-0.2mm厚。 · 2. 不接受具有揮發性、磁性、腐蝕性及易碎裂,致使Column污染之試片樣品必須完全乾燥。
穿透式電子顯微鏡 (TEM): JEOL JEM-1200EXII。 掃描式電子顯微鏡(SEM): HITACHI S-3500N。 超薄切片設備: Leica Reichert Ultracut S , Leica EM Trim , Leica ...
... PLM)、X射線繞射分析儀(X-ray diffractometer, XRD)、穿透式電子顯微鏡(transmission electron microscope, TEM)或掃描式電子顯微鏡(scanning electron microscope ...
穿透式電子顯微鏡 (Transmission electron microscope) 型號:HITACHI H-7500 原理: 穿透式電子顯微鏡所依據之原理基本上與光學顯微鏡非常相似,它利用電子取代了可見光 ...
第1章穿透式電子顯微鏡結構與功能第2章電子繞射第3章影像第4章掃描穿透式電鏡與高分辨高角環形暗場像第5章成份分析第6章TEM試片製備附錄1 TEM紀事附錄2 常用的常數 ...
利用經電磁或靜電透鏡來聚焦的電子束,獲得放大影像。 穿透式和掃描式電子顯微鏡兩種。 可以觀察病毒、內質網、核糖體等。 下圖為:電子顯微鏡示意圖。 學會了 看不懂.
zh.wikipedia.org/zh-tw/穿透式電子顯微鏡穿透式電子顯微鏡( 英語: Transmission electron microscope ,縮寫TEM ),簡稱透射電鏡,...
生物電子顯微鏡觀測 · 1. 穿透式電子顯微鏡(Transmission Electronic Microscope, TEM) · 2. 掃描式電子顯微鏡(Scanning Electronic Microscope, SEM) · 1. · 2. 冷凍超薄切片 ...
近年來將TEM與SEM結合為一,取二者之長所製成的掃描穿透式電子顯微鏡. (scanning transmission electron microscope,STEM) 亦漸普及。STEM 附.
夏禾,最近臨場液態腔體電子顯微鏡的發明克服了傳統穿透式電子顯微鏡或掃描式電子顯微鏡難以觀察液態樣品的限制並已變成常規可得的技,月旦知識庫,整合十大資料庫交叉 ...
本研究報告,係以光學顯微鏡,掃描式. 電子顯微鏡(SEM),及穿透式電子顯微鏡. (TEM),探討TMCP 結構鋼板,以臺灣天. 泰銲線(AWS:ES-G-EW),與臺灣天泰銲.
(1)掃描式電子顯微鏡(scanning electron microscope,. SEM). (2)穿透式電子顯微鏡(transmission electron ... 用所產生散射之原理來研究物質構造及微細結.
光學顯微鏡放大倍率最高只有約1500倍,掃描式顯微鏡可放大到10000倍以上。 ... 穿透式電子顯微鏡,係利用電子槍〈電子放射源〉取代光學顯微鏡的燈泡,以電磁透鏡取代 ...
1927年Davisson與Germer以電子繞射實驗證明了電子的波動性。 1934年. Ruska製造了第一部穿透式電子顯微鏡(transmission electron microscope,. TEM)。
穿透式電子顯微鏡 (Transmission Electron Microscopy, TEM)具有高穿透能力及高解析度,為科學研究上最重要的工具之一。醫學院於97學年由宗倬章先生教育基金會捐款並 ...
掃描式電子顯微鏡 (Scanning Electron Microscope,SEM). V.1.1.SEM之簡介. 1931年推出了第一部穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscopy,TEM),經過四 ...
掃描式電子顯微鏡. SEM 掃描式電子顯微鏡. 機型:Hitachi-S3400,EDS機型:HORIBA. Ⅰ. 0.5~30KV. Ⅱ. 電子光源:鎢絲. Ⅲ. 放大倍率:X 35 ~ X 50k.
掃描電子顯微鏡 (scanning electron microscope),簡稱SEM,是1965年發明的較現代的細胞生物 ... 1931德國物理學家Knoll 及Ruska 首先發展出穿透式電子顯微鏡原型機。
原華電子股份有限公司光學儀器及光學配件、電子儀器及電子材料、掃描式電子顯微鏡及其週邊設備 Fine Vision Electronics is an independent design and manufacturer ...
中文詞彙 英文翻譯 出處/學術領域 掃描式電子顯微鏡 scanning electron microscope (SEM) 【材料科學名詞‑高分... 掃描式電子顯微鏡;掃描式電鏡 scanning electron microscope 【材料科學名詞‑金屬... 掃描電子顯微法;掃描電子顯微學 scanning electron microscopy 【化學名詞‑化學術語】
SNE-4500M PLUS 掃描式電子顯微鏡. SNE-4500M PLUS 包含五軸(X,Y,Z,R,T)全自動載台,並搭配光學導航,可快速移動樣品, 進行表面/載面分析並可搭配EDS,進行成份分析。
穿透式電子顯微鏡 ( 英語: Transmission electron microscope ,縮寫TEM ),簡稱透射電鏡,是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而 ...
市面上電子顯微鏡分為兩種主要類型: 1.透射電子顯微鏡(TEM),使用電子檢測穿過非常薄的樣本成像。 2.掃描電子顯微鏡(SEM),它使用被反Sem技術如何運作? 掃描式電子 ...
nikon 電子顯微鏡皮膚200x電子顯微鏡掃描隧道顯微鏡缺點顯微鏡英文顯微鏡自製活動顯微鏡美容 ... 透過型電子顕微鏡透射電子顯微鏡; 掃描電鏡; 穿透式電子顯微鏡.
英文名稱, Transmission Electron Microscope ; 圖片 ; 功能說明, HT7700為日本HITACHI公司所開發新款穿透式電子顯微鏡,全自動操作介面,針對生物性樣本做超微結構觀察, ...
掃描電子顯微鏡 (SEM) SEM是利用細聚焦電子束在樣品表面掃描時激發出來的各種 ... (四)、 穿透式電子顯微鏡(TEM) 雖然TEM 與SEM 皆為使用電子束來當作測試的電顯。
結構分析常用到的儀器包括觀察細微結構的掃描式電子顯微鏡(Scanning ... 解析度的穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,TEM)等;而 ...
这种类型的显微镜使用由玻璃或塑料镜片散射的光来将物体放大到其正常尺寸的2000倍。 ... 扫描电子显微镜不使用集中电子束穿透物体,如透射电子显微镜那样。
(TEM) 穿透式电子显微镜.PDF,TransmissionTransmission electronelectron microscopymicroscopy ((TEM)) 穿透式電子顯微鏡• 11-11前言前言• 1-2發展 ...
請敘述電子顯微鏡的分類及成像原理,並舉例說明電子顯微鏡術如何應用在食品微生物?【106-2-B】 Ans:常見電子顯微鏡種類如:穿透式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、冷凍 ...
雷射掃描共軛焦顯微鏡(Laser Scanning Confocal Microscopy ,簡稱LSCM)是近代生物醫學影像儀器的最重要發展之一,它是在螢光顯微雷射掃描裝置,使用紫外光或可見光激發 ...
子束後,由電磁透鏡聚焦成散度小、亮度高且尺寸小的電子束。 ... 驗掃描式電子顯微鏡不同的是,穿透式電子顯微鏡是接收通過試片的透 射電子成像,因此和掃瞄式電子.
100000 100001000 100 10 1 0.1 0.01 電子微探儀質子激發X-射線分析儀感應耦合電漿 ... 二次電子和背向散射電子,以及穿透電子訊號可供掃描式和穿透式電子顯微鏡的耳石 ...
其量測方式與掃描式電子顯微鏡( Scanning electron microscope , SEM )、穿透式電子顯微鏡( Transmission electron microscope , TEM )不同,不使用高能量的電子束而是 ...
另外也能利用穿透式電子顯微鏡(transmission electron scope, TEM)或高解析穿透式 ... 微差掃描熱卡計試驗(differential scanning calorimeter, DSC)係用來分析高分子 ...
企查查股权穿透显示,该公司由宜宾三江投资建设集团有限公司、宁德时代新能源产业投资有限公司共同持股,后 ... 激光扫描共聚焦显微镜中标结果公告(1).
高解析:業界最高解析度,可觀測到7nm微粒子。 高相容性:與各種型號的SEM 相容(FEI/Thermo Fisher/Keyence/JEOL/Hitachi/ZEISS ...
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穿透式電子顯微鏡掃描式電子顯微鏡 在 中央社財經粉絲團 Facebook 的最佳解答
武漢肺炎病毒真面目 美公布新影像
#武漢肺炎病毒真面目
穿透式電子顯微鏡掃描式電子顯微鏡 在 國立臺灣大學 National Taiwan University Facebook 的最佳解答
【凝態中心朱明文研究員與物理系郭光宇教授合力解開氧化物界面傳導電性之謎發表於《Nature Communications》】
2004年,日本研究團隊在LaAlO3和SrTiO3界面發現「將兩個氧化物絕緣體接起來,它的界面居然變成導體」的新穎物理現象,震撼凝態物理學界。更由於其與半導體界面傳導二維電子氣(two-dimensional electron gas)之相似性,開創了氧化物電晶體的可能。此導電性界面同時具備超導性(superconductivity)、鐵磁性(ferromagnetism)、和意想不到的絕緣鐵電性(ferroelectricity),這些形形色色的物理現象不僅彼此不相容,也同時是半導體界面物理學中不存在的自由度。LaAlO3和SrTiO3界面因而可說是學術與應用兼備的典範系統,三位主要發現者近年來更是屢獲國際物理學大獎。
然而,科學家對LaAlO3和SrTiO3界面系統的了解並非完全成熟。首先,界面導電性究竟從何而來?看似不相干乃至不相容的超導性、鐵磁性和鐵電性何以同時出現?其中又以界面導電性的起源最為關鍵,最有可能扮演揭開界面超導性、鐵磁性和鐵電性起源的鑰匙。解開LaAlO3和SrTiO3的界面導電性根源,於是成為眾多物理和材料科學家共同追逐的聖杯。這個12年來未解的難題在物理系暨凝態中心博士生-李培瑋-六年來的努力下進入嶄新的階段。
在凝態中心朱明文研究員和物理系郭光宇教授的指導下,李培瑋博士生利用掃描穿透式電子顯微鏡(scanning transmission electron microscopy)和電子損失能譜儀(electron energy-loss spectroscopy),以逐原子分析其化學、電子(electronic)、結構特性的方式,解開LaAlO3和SrTiO3的界面導電性源自於LaAlO3和SrTiO3介面應變(strain)誘發的鐵電性晶體自由度。分別存在於兩材料中的鐵電極化(polarization)以獨特的頭對頭方式指向對方並造成靜電排斥,系統因而產生傳導屏蔽(screening)電子氣來舒緩此排斥,LaAlO3和SrTiO3界面於是出現導電性和絕緣鐵電性共存之獨特現象。此突破性發現,更為界面超導與鐵磁共存提供一全新視角,供未來之理論與實驗工作探索。交大材料系朱英豪教授團隊提供高品質樣品與凝態中心陳正弦名譽教授提供寶貴的科學建議,亦是功不可沒。
過去12年來,LaAlO3和SrTiO3界面導電性起源一直處於由三位主要發現者詮釋的狀態,儘管他們的說法未獲普遍性認同。這是第一次有研究團隊可以突破此玻璃天花板,且是來自台灣的全本土團隊,實驗工作更是由李培瑋博士生獨力完成,難能可貴。李培瑋博士生剛開始接觸這個領域的頭三年,都處於碰撞摸索階段,將完整的數據整理完畢已經是博士班第四年快結束,接下來更用將近兩年的時間將這些數據背後的物理意義作透徹的分析,才得以揭開此一關鍵物理問題的謎底,其沈著穩健的特質在同儕中出類拔萃。