你即將離開本站

並前往https://zhuanlan.zhihu.com/p/438506465

MEMS、芯片材料分析：FIB、SEM、TEM - 知乎专栏

DB FIB双束聚焦离子束： 特点： 双束聚焦离子束是一种多用途的分析技术，可以用于样品定位切割并将隐藏在各种基底材料中的缺陷揭露出来。

確定！ 回上一頁

查詢 「tem用途」的人也找了：

  1. tem繞射圖分析
    2.
  2. tem sem差異
    3.
  3. tem原理
    4.
  4. tem前處理
    5.
  5. TEM SEM
    6.
  6. HRTEM
    7.
  7. 穿透式電子顯微鏡掃描式電子顯微鏡
    8.
  8. 掃描穿透式電子顯微鏡
    9.