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奈米化後產品的分析 - 宜蘭大學食品科學系

掃瞄線圈：SEM與TEM很類似，唯一的不同在SEM多了掃描線圈。掃描線圈的功能是用來偏析電子束， ... 而AFM目前最大的用途適用於分析樣品表面粗糙度和檢測元件瑕疵程度。

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