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透射电子显微镜TEM 型号

仪器简介：. TEM用于观察样品内部组织形貌，特别适用于对纳米尺度样品的观测；具有结构相的样品，能在高倍数下观测到晶格条纹。其中，STEM综合扫描和普通透射电子分析 ...

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