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穿透式電子顯微鏡之收斂電子束繞射於半導體材料分析之應用

... 晶格應變 ； 雙束條件 ； 晶界差角. 分享到. 摘要 │ 被引用次數(1) │ 文章國際計量. 摘要〈TOP〉. 穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, TEM)具有極佳的 ...

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