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TEM分析中電子衍射花樣的標定原理（三）

1.由於薄膜試樣的形狀效應，使倒易陣點變長，這種伸長的倒易杆增加了高層倒易面上倒易點與反射球相交的機會；. 2.晶格常數很大的晶體，其倒易陣點排列更密 ...

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