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電子顯微鏡技術及應用進修報告

該系統能以更高通量的原子分辨率成像，具新型Cs 校正器補償高階. 像差，可選用TEM 模式和STEM 模式觀察原子的設備，具有EDX 檢. 測器和EELS 檢測器。

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