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義法半導體,ST::半導體,多次燒錄唯讀記憶體 - CTIMES

... 測試程序，保證可操作在-40℃~125℃的汽車溫度範圍內，滿足汽車應用對品質及可靠度的要求。這項測試流程結合了統計箱限制（Statistical Bin Limit，SBL）與零件平均 ...

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