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CN100427963C - 半导体测试管理系统及方法 - Google Patents

接着将测试结果载入统计控制/统计限制(Statistic BIN Control/StatisticBIN Limit，SBC/SBL)规则，以产生对晶圆、晶圆批次或半导体产品良寙的最后建议，诸如接受、 ...

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