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國立高雄大學電機工程學系(研究所) 碩士論文

極漏電流的遽增，使用高介電常數材料取代傳統二氧化矽以抑制閘極漏電流的方. 式被廣泛的研究。 ... NBTI degradation than device with SiO2 gate dielectric.

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