儀器代碼 MS000900; 儀器名稱 TOF-SIMS 二次離子質譜儀; 服務項目: 1、可分段量測10~10000cm-1之吸收光譜,一般IR在500~4000cm-1之間。 2、解析度最高可達0.06cm-1, ...
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