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貴儀器設備(下載) - 產學合作發展中心

測量模式:Scan/SIM。 最小pause time:1msec。 ... 當入射的電子束轟擊原子序較大的導電性試件表面時，因為試件元素的原子核尺寸大於入射的電子，因此產生彈性碰撞。

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