你即將離開本站

並前往http://www.bilibili.com/read/cv13496032

二次离子质谱（SIMS）分析技术及应用

带有TOF质谱分析器的TOF-SIMS因其超高的分辨率、灵敏度并且可以同时检测无机物和有机物而被各大半导体公司厂家用于检测硅晶元件的元素定位和表面 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「sims半導體」的人也找了：

  1. 二次離子質譜儀台灣
    2.
  2. TOF-SIMS
    3.
  3. sims分析
    4.
  4. tof-sims分析
    5.
  5. 二次離子質譜儀ppt
    6.
  6. sims清大
    7.
  7. tof sims xps比較
    8.
  8. Secondary ion mass spectrometer
    9.