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#1飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）
飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）是一種表面分析技術，可將脈衝的初級離子束聚焦到樣品表面，在濺射過程中產生二次離子. 分析這些次級離子可提供有關表面上存在的 ...
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#2飛行時間二次離子質譜儀的原理與應用 - 台灣儀器科技研究中心
Time-of-flight secondary ion mass spectrometer (TOF-SIMS) is capable of ... 分析方式. TOF-SIMS 分析方式分為(a) 縱深分析(dy- namic-SIMS)，(b) 表面影像 ...
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#3縱橫半導體檢測TOF-SIMS扮演要角- 電子技術設計
TOF -SIMS藉由帶有能量的入射離子轟擊待測樣品的表面，將目標區域的原子轟出而產生二次離子，二次離子經過加速後被導入飛行時間式的質譜分析系統。這些不同 ...
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#4二次離子質譜儀(SIMS) - MA-tek 閎康科技
... SIMS，適用分析深度>1um，可以得到元素與同位素資料；飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS） ... 閎康添購的M6 plus 為ION-TOF 最高階機型，具有<50 nm High lateral ...
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#5二次離子質譜儀(TOF-SIMS) - 國立清華大學貴重儀器使用中心
儀器設備說明：. 儀器開放年度：2017年; 廠牌及型號：德國 ION-TOF, TOF-SIMS V; 重要規格：. 分析離子源：Ar + 、Bi + ; 濺射離子源：O2 +、 Cs + ; 質量分析器：飛行時間式 ...
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#6二次離子質譜分析儀(SIMS) - iST宜特
二次離子質譜分析儀(Secondary Ion Mass Spectrometer, SIMS)主要是利用離子高靈敏度的特性，針對樣品的表面微汙染、摻雜與離子植入的P/N濃度定量 ...
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#7TOF-SIMS(飛行式二次離子質譜) - 歐陸檢驗
TOF -SIMS（飛行式二次離子質譜）是將一次離子脈衝束聚焦在樣品表面上，在濺射過程中產生二次離子的表面分析技術。分析這些二次離子可以得到有關表面上 ...
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#8飛行時間二次離子質譜儀(TOF-SIMS) PHI nanoTOF - 博精儀器
在飛行時間質譜分析中，脈衝二次離子被加速到特定電壓（2至8千電子伏），使所有離子具有大致相同的動能通過無電磁場空間然後到達探測器。 飛行時間二次離子質譜儀(TOF-SIMS) ...
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#9二次離子質譜- 維基百科，自由的百科全書
二次離子質譜（英語：Secondary Ion Mass Spectroscopy, SIMS）是用來分析固體表面或者是薄膜的化學成分的技術，其用一束聚焦的離子束濺射待測品表面，並通過檢測轟擊 ...
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#10依分析方式
名稱. 飛行時間二次離子質譜儀. (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer (TOF-SIMS). 儀器廠牌型號. IONTOF, TOF.SIMS 4,Germany. 購入日期.
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#11tof-sims分析——看完你就懂了！ - 日間新聞
飛行時間-二次離子質譜儀（TOF-SIMS），是一種非常靈敏的表面分析技術。它利用一次離子激發樣品表面微量的二次離子，根據二次離子飛行到探測器的時間不同 ...
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#12TOF-SIMS（飛行時間二次離子質譜儀）_百度百科
TOF -SIMS（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）是通過用一次離子激發樣品表面，打出極其微量的二次離子，根據二次離子因不同的質量而飛行到探測器的時間 ...
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#13乾貨| 二次離子質譜大科普！TOF-SIMS及D-SIMS例項分析
飛行時間二次離子質譜儀(TOF-SIMS)。在此類質譜儀中，二次離子被提取到無場漂移管，二次離子沿既定飛行路徑到達離子檢測器。由於給定離子的速度與其質量成 ...
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#14一文認識TOF-SIMS - 每日頭條
飛行時間-二次離子質譜儀（TOF-SIMS），是一種非常靈敏的表面分析技術。它利用一次離子激發樣品表面微量的二次離子，根據二次離子飛行到探測器的時間不同 ...
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#15二次離子質譜術分析技術研發與新型陽離子高分子基因載體研究
飛行時間二次離子質譜術TOF-SIMS(Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectrometry)，具有同時分析微量有機分子與無機元素的能力，質量分析範圍可從氫原子到分子量上萬 ...
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#16以紙基微流道與分子型二次離子質譜術進行分子混合物之分離與 ...
加上近年來簇離子團(cluster ion)濺射技術的發展，二次離子質譜儀能夠產生高質量的離子破片，並分析未經同位素標記的混合樣品。而飛行式二次離子質譜儀(ToF-SIMS)屬於 ...
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#17TOF-SIMS分析测试技术研究 - 手机知网
TOF -SIMS分析测试技术研究,飞行时间二次离子质谱,数据分析软件,铜同位素,边缘效应,数据处理。飞行时间二次离子质谱法(Time of Flight Secondary ion mass spectroscopy ...
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#18飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS） - 科学指南针
科学指南针可为您提供TOF-SIMS服务，TOF-SIMS是通过用一次离子激发样品表面，打出极其微量的二次离子，根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子 ...
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#19飞行时间二次离子质谱分析技术（TOF-SIMS）讲座-Ⅲ
清华大学分析中心将于下周五（2021年5月14日）下午13:30进行飞行时间二次离子质谱分析技术（TOF-SIMS）讲座：探针式膜厚测量仪（台阶仪）介绍及使用。
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#20Kore SurfaceSeer S TOF-SIMS
在一个点上进行几分钟的分析才能达到所谓的“静态模拟”极限，即在数据中表面损伤变得清晰可见的点(聚焦和波束电流相关)。尽管离子剂量很低，但TOF分析仪非常高效，这也解释 ...
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#21GCIB-TOF-SIMS
GCIB-TOF-SIMS. 表面汙染薄膜中的添加劑分析. 有機薄膜中的組成分布解析. 有機層的組成構造解析. 有機材料的低損害測定. 將最表面的汙染層以Ar-GCIB 去除後, ...
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#22tof-sims分析——看完你就懂了！_样品 - 搜狐
飞行时间-二次离子质谱仪（TOF-SIMS），是一种非常灵敏的表面分析技术。它利用一次离子激发样品表面微量的二次离子，根据二次离子飞行到探测器的时间 ...
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#23TOF-SIMS - 纳米真空互联实验站
飞行时间二次离子质谱法（TOF-SIMS）. 二、设备型号、关键性能参数. 型号： TOF.SIMS5-100. 关键性能参数：. 功能：元素构成和化学结构的信息. 工作压力：UHV. 分析用 ...
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#24二次離子質譜（SIMS）分析技術及應用 - 資訊咖
二次離子質譜（Secondary Ion Mass Spectroscopy，SIMS）是現代表面分析技術中 ... 帶有TOF質譜分析器的TOF-SIMS因其超高的解析度、靈敏度並且可以同時檢測無機物和 ...
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#25TOF SIMS （飞行时间二次离子质谱仪）
该仪器常用于样品表面有机与无机的痕量污染物分析，同时还能实现高灵敏的成分成像。 与全反射X荧光分析仪（TXRF）相比，TOF-SIMS具有与其可比的灵敏度，且对轻元素的 ...
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#26二次離子質譜儀tof-sims - Vscizr
tof -sims 名稱飛行時間二次離子質譜儀(Time-of-Flight Secondary Ion Mass ... SIMS 4， Germany 購入日期2003 年儀器原理二次離子質譜術是很靈敏的分析技術，可以用來 ...
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#27环氧树脂的飞行时间次级离子质谱仪(TOF—SIMS)分析
环氧树脂的飞行时间次级离子质谱仪(TOF—SIMS)分析. 邓朝辉;陈维孝;宗祥福. 复旦大学. CHARACTERIZATION OF EPOXIDE RESINS BY TIME-OF-FLIGHT SECONDARY ION MASS ...
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#28sims 元素分析
LED 在SIMS分析中，需要觀測的微量元素高達七八種，以下可得知磊晶中鎂(Mg, ... 動態二次離子質譜分析（D; 二次離子質譜SIMS; 飛行時間二次離子質譜分析（TOF ...
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#29二次離子質譜儀原理與生醫應用研討會
TOF -SIMS其基本原理是利用一次離子束，以一定的入射角度撞擊樣品原子層表面造成離子化後，由質量分析器（mass analyzer）依據其質荷比（m/z）進行偵 ...
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#30Secondary Ion Mass Spectrometry
新设计、对应多种分析应用的TOF－SIMS. 飞行时间二次离子质谱仪（TOF－SIMS： Time－of－Flight Secondary Ion Mass ...
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#31二次離子質譜儀／Secondary Ion Mass Spectrometer
表面成份分析(Mass spectrum); 縱深分佈(Depth profile). 三、申請服務辦法. 一般服務： 樣品處理後，請登入科技部貴重儀器資訊管理系統預約，連同申請表送達本SIMS ...
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#32飞行时间二次离子质谱TOF-SIMS对样品表面异物分析及微区成像
按照扫描方式，SIMS可以分为静态SIMS（SSIMS）和动态SIMS（DSIMS）。当样品表面出现异物，但是未能确定异物的种类，利用TOF-SIMS成分分析，不仅可以得到 ...
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#33TOF-SIMS分析测试技术研究--《吉林大学》 - 学位论文库
【摘要】：飞行时间二次离子质谱法(Time of Flight Secondary ion mass spectroscopy简称TOF-SIMS)是一种微区表面分析方法,已经应用于生物学、材料学等众多领域。
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#34二次离子质谱（SIMS）的原理特点和应用 - 分析测试百科网
二次离子质谱（secondary ion mass spectroscopy），是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器，它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的 ...
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#35TOF SIMS-二次離子_表面分析飛行時間式質譜儀/ KORE UK ...
1. TOF-SIMS surface analysis · 2. Surface mass spectrometry · 3. Insulator analysis · 4. Positive and Negative SIMS
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#36乾貨| 二次離子質譜大科普!TOF-SIMS及D-SIMS實例分析
乾貨| 二次離子質譜大科普!TOF-SIMS及D-SIMS實例分析. 2021-02-26 易科學. 通過質譜圖可以用來獲取樣品表面的分子、元素及同位素的信息，可以探測化學元素或化合物在 ...
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#37沣东科技资源共享平台专业技术服务论坛--XPS与ToF-SIMS技术 ...
ToF -SIMS是一种高灵敏的表面分析技术，可以检测元素周期表上的所有元素、同位素，且可以分析有机分子离子碎片，对有机生物样品进行准原位的分子结构 ...
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#38TOF-SIMSとは - 表面分析情報 - Ulvac-Phi
飛行時間型二次イオン質量分析法（TOF-SIMS：Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)は、固体試料にイオンビーム（一次イオン）を照射し、表面から放出され ...
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#39静态二次离子质谱（TOF-SIMS） - 测试狗
样品成像、成分定性鉴定; 三维成像、二维成像、质谱。对材料表面、界面的元素、分子结构进行分析，分析深度:表面1-3nm，检出限：ppm级别。
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#40二元素无机薄膜的TOF-SIMS分析中的基质效应,Journal of ...
矩阵效应，即元素离子收率对周围化学状态的依赖性通常被认为是元素表征中的负面和限制因素。实际上，这是使飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）成为非定量技术的主要 ...
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#41飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS - 铄思百检测
二次离子质谱（Secondary ion mass spectroscopy，简称SIMS）是一种表面分析技术，是基于一次离子与样品表面的相互作用。SIMS工作原理是指带有几千 ...
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#42sims 分析
二次離子質譜分析儀(SIMS) 二次離子質譜分析儀(Secondary Ion Mass ... TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三維樣品的元素、分子等結構信息，其特點在二次離子 ...
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#43元素分析方法汇总-SIMS - 知乎专栏
02 常用SIMS类别. TOF-SIMS：飞行时间二次离子质谱. D-SIMS：动态二次离子质谱. TOF-SIMS原理. 1、有刻蚀枪（Ar，Cs，O）和分析枪（Bi）。
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#44飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS
Hiden TOF-qSIMS 飞行时间二次离子质谱工作站设计用于多种材料的表面分析和深度剖析应用，包括聚合物，药物，超导体，半导体，合金，光学和功能涂层以及电介质，检测限低于 ...
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#45飛行時間二次離子質譜TOF-SIMS對樣品表面異物分析及微區成像
當樣品表面出現異物，但是未能確定異物的種類，利用TOF-SIMS成分分析，不僅可以得到異物所含元素，還可以分析出異物的分子式，包括有機物分子式。
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#46元素分析方法汇总-SIMS
#TOF-SIMS 1. 常用的元素分析设备对比. 图片. No. 01. SIMS原理. 一定能量的离子打到固体表面会引起表面原子分子或原子团的二次发射，即离子溅射。
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#47TOF-SIMS免费公开课|| 表面分析领域深耕20年的大牛
TOF -SIMS（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）是通过用一次离子激发样品表面，打出极其微量的二次离子，根据二次离子因不同的质量而 ...
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#48二次離子質譜儀 - 中文百科全書
Secondary-ion-mass spectroscope （SIMS）是一種基於質譜的表面分析技術，二次離子 ... 儘管TOF分析器出現的比較早，但是由於技術上的難題，直到1982年它才被用於SIMS ...
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#49飞行时间二次离子质谱- 万博体育苹果app下载,万博棋牌登陆,万博官网 ...
TOF -SIMS提供有机物和无机物的定性表面元素和化学分析，以及元素和化学成像。 获得的数据是丰富的，可以强大，以解决复杂的表面化学问题 ...
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#50TOF SIMS | Thermo Fisher Scientific - CN - 赛默飞
材料科学. 二次离子质谱. FIB SEM 仪器中用于光和痕量元素分析的SIMS 质谱结合聚焦离子束铣削。 联系我们. 应用. 样品. 产品. 相关资源. 联系我们.
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#51飞行时间二次离子质谱分析（TOF-SIMS） - 美信检测
飞行时间二次离子质谱技术（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry，TOF-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出极其微量的 ...
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#52TOF-SIMS - Plasma.com
TOF -SIMS. 飞行时间二次离子质谱分析(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) 的缩写，是一种表面分析方法，采用这种方法时，表面会受到脉冲离子束的轰击。
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#53聚合物表面和界面分析之XPS和tof-sims的原理 - 材料与测试网
本文将通观x射线光电子能谱（XPS或称ESCA）和质谱仪（tof-sims）。这两种技术是最有用的分析技术，用于研究聚合物表面和界面的化学结构。
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#54二次离子质谱仪_搜狗百科
尽管TOF分析器出现的比较早，但是由于技术上的难题，直到1982年它才被用于SIMS仪器设计上。早期将TOF用于表面分析质谱仪器设计的工作是由Mueller和Krishnaswamy两位 ...
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#55TORAY - TOF-SIMS | 株式会社東レリサーチセンター
TOF -SIMSは、試料最表面の有機物の構造情報を高感度に検出できる手法である。これに加えて、ガスクラスターイオンビーム（GCIB）を用いたエッチングや、ミクロトームや ...
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#56一文認識TOF-SIMS - 今天頭條
目前TOF-SIMS主要用於有機樣品的表面分析，如生物藥品的有機物分析、半導體材料的污染分析、儲能材料分析及有機分子碎片鑑定等。隨著技術的改善，分析區域 ...
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#57飞行时间二次离子质谱TOF-SIMS 德国IONTOF 表面分析M6
其设计保证了SIMS应用于任何领域都能达到高性能。灵活的高精度样品导航以及成功的电荷补偿功能允许对几乎所有类型的样品进行分析，使TOF.SIMS 5 成为市场上非常灵活 ...
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#58MST｜［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法
最表面を高感度で分析可能; HからUまでの全元素、C,H,N,O,P,Sなどからなる有機物の分子イオンが取得可能; イメージ分析が可能; 有機・無機化合物の構造解析・同定が ...
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#59PHI NanoTOFII TOF-SIMS 飞行时间二次离子质谱仪 - 仪器网
详细介绍. TRIFT-V nanoTOF II(三次聚集飞行时间)二次离子质谱仪是超灵敏的表面分析技术，可检测表面分子成分和分布，元素及其同位素。所有元素和同位素，包括氢都可以 ...
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#60「tof sims xps比較」懶人包資訊整理 (1) | 蘋果健康咬一口
tof sims xps比較資訊懶人包(1)，宜特在驗證分析領域二十多年的耕耘中，最常遇到的客戶問題就是，「現在面臨的失效現象，要用什麼工具SEM,XPS,AES,SIMS,AFM,FTIR找到 ...
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#61TOF-SIMS | 概念理论| 技术资料
理论上在可分析的m / z范围值里，它并没有任何限制。 基本原理. 指带有几千电子伏特能量的一次离子束入射样品表面，在作用区域 ...
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#62Introduction to TOF-SIMS Analysis for Beginners - J-Stage
[ 4] D. Briggs, M. P. Seah（志水隆一，二瓶好正（監訳） ）， 表面分析 SIMS―二次イオン質量分析法の基礎と応用， アグネ承風社 (2004).
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#63TOF-SIMS（飛行時間二次離子質譜儀） - 中文百科知識
TOF -SIMS（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）是通過用一次離子激發樣品表面，打出極其微量的二次離子，根據二次離子因不同的質量而飛行到探測器的時間 ...
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#64TOF-SIMS(飛行時間二次離子質譜儀) - 華人百科
TOF -SIMS(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)是通過用一次離子激發樣品表面，打出極其微量的二次離子，根據二次離子因不同的質量而飛行到探測器的時間 ...
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#65飞行时间二次离子质谱分析（TOF-SIMS）
TOF -SIMS（飞行式二次离子质谱）是将一次离子脉冲束聚焦在样品表面上，在溅射过程中产生二次离子的表面分析技术。分析这些二次离子可以得到有关表面上分子和元素种类的 ...
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#66TOF-SIMSによる表面分析 - パナソニック ホールディングス
飛行時間型 二次イオン質量分析（TOF-SIMS；Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）は、各種材料の極表面（～2nm ）の元素、分子の定性分析を行う表面分析 ...
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#67二次离子质谱仪TOF-SIMS测试分析技术简介 - 嘉峪检测网
飞行时间-二次离子质谱仪（TOF-SIMS）简介. 采用质谱技术分析材料表面原子层以确定表面元素组成和分子结构。二次离子质谱可以分析包括氢在内的全部 ...
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#68飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)结合化学衍生法分析杂环新 ...
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析了难挥发的杂环新化合物咪唑啉硫氰酸盐及其三种衍生物, 确认出很强的氢离化及银离化准分子离子峰, 通过对各种衍生物谱图的对照分析 ...
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#69二次イオン質量分析法 －TOF-SIMS法の紹介 - Hitachi High ...
TOF -SIMS は、大きく分けると一次イオン源、超高真空試料チャンバー、飛行時間型質量分析計から構成される。装置の概観とその構造の一例（ION-TOF社TOF.
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#70飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析技术被引量：1
本文对TOF-SIMS分析技术的发展、原理、基本构成、特点和应用领域等方面做了全面介绍。 Time-of-flight secondary ion mass spectrometry(TOF-SIMS) is currently one ...
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#71飞行时间二次离子质谱TOF-SIMS对样品表面异物分析及微区成像
当样品表面出现异物，但是未能确定异物的种类，利用TOF-SIMS成分分析，不仅可以得到异物所含元素，还可以分析出异物的分子式，包括有机物分子式。
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#72sims 元素分析硅中氧、碳的二次離子質譜(SIMS)分析 - CCAGM
スパッタリング現象に伴って，（5）元素靈敏度高，生物 ダイナミック SIMS の 分析 手法、原理｜アメテックカメカ事業部. TOF-SIMSによる表面分析飛行時間型二次 ...
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#73化学品のTOF-SIMS分析｜化成品、インク
このような症状が起こったときの原因究明方法として、TOF-SIMS分析は有効に活用できます。試料表面から出る分子イオン、フラグメントイオン、または原子イオンを測定し ...
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#74【特色服务】SEM-FIB-Raman-TOF-SIMS原位分析平台
仪器简介：该系统在SEM-FIB系统的基础上配备了拉曼（Raman）、飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）、能谱仪（EDS）、背散射电子衍射仪（EBSD）、阴极荧光（CL）、扫描 ...
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#75tof sims原理 :: 軟體兄弟
tof sims 原理,分析這些二次離子可以得到有關表面上分子和元素種類的資訊。例如，如果存在有機污染物，像是表面吸附的油，TOF-SIMS將會顯示此資訊，而其他的技術則做 ...
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#76TOF-SIMS用于有机混合物分析的数据处理方法 - 有色金属在线
TOF -SIMS用于有机混合物分析的数据处理方法. 来源期刊：中国矿业大学学报1999年第1期. 论文作者：郝多虎杨陆武梁汉东. 关键词：飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS); 质谱 ...
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#77杂质控制（SIMS）
常见的微量分析技术（如辉光放电质谱法）由于高本底信号限制而无法测量轻元素（氢、碳、氮和氧）。飞行时间二次离子质谱法（TOF-SIMS）可以分析大气中的气体元素，但 ...
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#78飞行时间二次离子质谱仪- 在用
纳米尺度下，对固体材料、生物组织或细胞进行化学成像分析；半导体材料痕量杂质 ... 如果样品置入ToF-SIMS预抽真空腔体内，经过一夜抽真空后依然无法抽至1e-7mbar ...
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#79TOF-SIMS分析 | 株式会社アイテス
TOF -SIMS (Time Of Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy)は、軽元素、無機物から分子量の大きい有機物まで、最表面の微量成分の分析が可能です。
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#80跟蹤分析– SIMS、ToFSIMS 和ICPMS | SGS 香港
飛行時間二次離子質譜法(ToF–SIMS) – 探測表面雜質; 以氣相分解(VPD) 或包提取方法(PEM) 為支撐的電感耦合等離子體質譜法 ...
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#81关于飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）的交流座谈的通知
TOF -SIMS是一种非常灵敏的分析系统。通过对样品表面进行轰击产生的二次离子，可以精确定表面元素的构成。通过对分子离子峰和官能团碎片的分析可以方便 ...
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#82TOF-SIMS数据分析 - 小木虫
如图1，实验室给我的原数据该怎么下手分析呢？我知道mass是相对分子质量，intensity就是个强度单位， ... 当前位置： 首页 > 分析 >TOF-SIMS数据分析 ...
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#83TOF-SIMSによる材料表面の有機物の分析
飛行時間型二次イオン質量分析 (Time-of-Flight. Secondary Ion Mass Spectrometry; TOF-SIMS) は材. 料の最表面 ( 数nm ) を対象とした表面分析法の一. つであるが，X線 ...
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#84用于ToF-SIMS和XPS分析的纳米颗粒的制备 - JoVE
在ToF-SIMS中，表面用聚焦离子束（初级离子）溅射，从材料中喷射的离子（二次离子）在飞行时间质谱仪中收集和分析。获得的质量/电荷图允许测定元素， ...
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#85飞行中离子质谱法（TOF-SIMS）的时间 - 爱游戏苹果下载
Analytical Chemistry Testing Laboratory white papers on Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS) from Jordi Labs.
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#86飞行时间二次离子质谱法在一次污染过程中PM 2.5 表面组分 ...
团簇离子源的发明和使用，使飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）法成为材料表面化学分析越来越重要的手段，TOF-SIMS法的主要测试功能包括表层质谱、化学 ...
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#87飛行時間型二次イオン質量分析 (TOF-SIMS) - 東芝ナノ ...
飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)は、極表面に存在する無機・有機成分を分子レベルで高感度に評価できる手法で、マッピング分析や深さ方向分析 ...
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#88飛行時間型二次イオン質量分析計（TOF-SIMS） - 日鉄 ...
飛行時間型二次イオン質量分析計（TOF-SIMS）は一次イオンビームを試料に照射し、試料から発生する二次イオンの飛行時間により質量分離を行う手法です。
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#89TOF-SIMSによる無機ケイ素化合物の化学状態分析 - UBE ...
飛行時間型2次イオン質量分析法（TOF-SIMS）は、試料表面に存在する有機化合物の化学構造情報を得るために広く用いられていますが、無機化合物の化学状態を評価した例 ...
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#90冬虫夏草中甘露醇和虫草素的TOF-SIMS分析
冬虫夏草中甘露醇和虫草素的TOF-SIMS分析. 李展平 1, 真田则明 2, 孙素琴 1. 1. 清华大学分析中心，北京100084 2. ULVAC-PHI Inc. 370 Enzo, Chigasaki, Kanagawa, ...
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#91微源檢測推出二次離子質譜SIMS測試- 頭條匯
它除了可以分析包括氫元素在內的所有元素以外，還能夠分析同位素，以及分析. ... 微源檢測自有的德國ION-TOF的先進TOF-SIMS 5儀器，可以在半導體、微電子、生物醫藥 ...
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#92透過「旋轉」，英科學家讓彈殼上指紋無所遁形 - 3C新報
諾丁漢研究團隊透過「二次離子質譜」（ToF-SIMS）技術，從彈殼提取指紋。簡要來說，二次離子質譜是分析固體表面或薄膜的化學成分，用一束聚焦離子束濺 ...
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#93飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS） - 天目湖先进储能技术 ...
TOF -SIMS被广泛应用于各种材料开发，材料剖析，多层薄膜/结构剖析与失效机理的分析和研究具有不可替代的作用。 研发领域：半导体器件、纳米器件、生物医药、量子结构、 ...
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#94【表面分析】材料表面の揮発性物質を分析できます ～TOF ...
接着不良の原因の一つとして被着体表面における阻害成分の存在が挙げられ、被着体表面に存在する成分を調べる手法としては、TOF-SIMS(飛行時間型二次イオン質量分析法) ...
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#95TOF-SIMSによる有機物の高感度分析 - 東レ
No.0035 TOF-SIMSによる有機物の高感度分析. 一次イオンとしてGa + +を用いた測定では、辛うじて 85 C4H5O2-が検出されていることから異物が ...
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#96北醫大設置3千多萬「飛行式二次離子質譜儀」（TOF-SIMS）
而北醫大之生醫質譜影像中心推廣具有高感度、便捷、快速又標準化的質譜影像分析技術，將以TOF-SIMS為核心技術，成為亞洲第一的質譜影像研究中心。
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#97第二章分析方法及原理
Time-of-Flight ( TOF )，是MALDI 最常用且最適當的質量分析器。這是因. 為MALDI 所分析的樣品多半是大分子量的生化樣品，而TOF 理論上並沒有偵. 測質量 ...
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#98sims 分析
SIMS介紹. 當固體樣品被幾keV能量的一次離子濺射時，定性のための質量スペクトル分析，TOF-SIMS）是一種非常靈敏的表面分析技術，固體試料の局所領域を高感度に元素分析 ...
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#99tof-sims分析- 望花路东里
飞行时间二次离子质谱技术(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry,TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术,通过用一次离子激发样品表面,打出极其微量的二次 ...