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二次離子質譜儀 - Qtill

二次離子質譜分析儀(SIMS) 二次離子質譜分析儀(Secondary Ion Mass Spectrometer, SIMS)主要是利用離子高 ... 廣泛應用於半導體、LED，以及薄膜材料的微量檢測分析上。

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