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CAMECA | 電子探針顯微分析(EMPA) | 二次離子質譜儀(SIMS)

CAMECA 是二次离子质谱(SIMS)、电子探针层析(EPMA)、浅表面探针(LEXES) 和原子探 ... 材料分析科學儀器，並為半導體製造業提供工藝分析用的高精度元素分析解決方案。

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