你即將離開本站

並前往https://ir.nctu.edu.tw/bitstream/11536/42924/1/153001.pdf

電子工程學系電子研究所碩士班 - 國立交通大學機構典藏

半導體 雜質濃. 度的測量，傳統上常以SIMS 進行縱深方向分析，其特點在於可直接測量材. 料內部的雜質元素種類與濃度縱向分佈，但無法進行二維平面的測量。 1989 年，C. C. ...

確定！ 回上一頁

查詢 「sims半導體」的人也找了：

  1. 二次離子質譜儀台灣
    2.
  2. TOF-SIMS
    3.
  3. sims分析
    4.
  4. tof-sims分析
    5.
  5. 二次離子質譜儀ppt
    6.
  6. sims清大
    7.
  7. tof sims xps比較
    8.
  8. Secondary ion mass spectrometer
    9.