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SiC/GaN 功率半導體封裝和可靠性評估技術| 天瓏網路書店

書名：SiC/GaN 功率半導體封裝和可靠性評估技術，ISBN：7111669533，作者：菅沼，克昭著，出版社：機械工業，出版日期：2021-03-01，分類：GAN 生成對抗網絡、半導體.

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