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OPM POWERSURF Multi-300FA_白光干涉儀/共軛焦顯微鏡

... 測，切割後深度量測; 檢查微小缺陷、顆粒、刮痕，半導體封裝製程檢測; 透明、非透明、膠狀物質檢測 ... 可選用單Load Port或雙Load Port、SECS/GEM、OCR ID Reader.

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