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晶圓測試Wafer Testing: 最新的百科全書

一旦所有測試圖案都通過了特定芯片，它的位置就會被記住並在以後的IC 封裝過程中使用。在某些情況下，芯片可能具有可用於修復的內部備用資源（例如閃存IC）。

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