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【投顧週報】測試介面產業介紹

晶圓測試階段CP及FT比較◇各種探針卡的特點及應用◇國內測試介面廠商介紹. ... 主要應用於pad或者bump尺寸較小的高階封裝製成晶片上 AP、GPU、RF。

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